| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究的背景及意义 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-11页 |
| ·混合信号电路测试的研究现状 | 第8-10页 |
| ·混合信号BIST的研究现状 | 第10-11页 |
| ·课题来源及本文主要研究工作 | 第11页 |
| ·论文的结构安排 | 第11-13页 |
| 第二章 混合信号测试及混合信号BIST | 第13-22页 |
| ·模拟电路测试 | 第13-17页 |
| ·模拟电路测试的难点 | 第13-14页 |
| ·模拟电路故障分类 | 第14-15页 |
| ·模拟电路的测试方法 | 第15-17页 |
| ·内建自测试结构及分类 | 第17-18页 |
| ·混合信号BIST | 第18-20页 |
| ·本章小结 | 第20-22页 |
| 第三章 基于伪随机测试的混合信号BIST结构设计 | 第22-39页 |
| ·伪随机测试相关基本理论 | 第22-26页 |
| ·随机过程及其统计描述 | 第22-23页 |
| ·平稳随机过程 | 第23-24页 |
| ·各态历经过程 | 第24页 |
| ·线性时不变系统 | 第24-26页 |
| ·基于伪随机测试的BIST结构设计 | 第26-29页 |
| ·BIST系统结构设计 | 第27-28页 |
| ·BIST系统理论证明 | 第28-29页 |
| ·伪随机测试激励生成设计 | 第29-32页 |
| ·移位寄存器序列分析 | 第30-31页 |
| ·本原多项式 | 第31页 |
| ·LFSR 的结构 | 第31-32页 |
| ·特征参数的选取与分割 | 第32-35页 |
| ·响应分析器设计 | 第35-36页 |
| ·伪随机测试相关问题 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 BIST系统各模块设计 | 第39-49页 |
| ·BIST控制器设计 | 第39-42页 |
| ·测试激励生成器设计 | 第42-43页 |
| ·ADC控制器设计 | 第43-44页 |
| ·DAC控制器设计 | 第44-45页 |
| ·MAC单元设计 | 第45-46页 |
| ·FIFO存储器设计 | 第46-47页 |
| ·比较器设计 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 系统的仿真与数据分析 | 第49-62页 |
| ·仿真环境Pspice介绍 | 第49-50页 |
| ·空间映射与训练过程 | 第50-51页 |
| ·被测电路的性能参数 | 第51-52页 |
| ·样本点的选取 | 第52-54页 |
| ·影响伪随机测试的参数分析 | 第54-58页 |
| ·矩形脉冲宽度 | 第54-55页 |
| ·序列长度L | 第55-56页 |
| ·K参数 | 第56-57页 |
| ·采样频率f_s | 第57页 |
| ·采样精度 | 第57-58页 |
| ·试验过程及数据分析 | 第58-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-64页 |
| ·论文工作总结 | 第62-63页 |
| ·进一步研究工作 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 作者在攻读硕士期间的主要研究成果 | 第69-70页 |
| 附录A:BIST系统Verilog HDL代码 | 第70-78页 |
| 附录B:Pspice网表文件及部分Matlab代码 | 第78-79页 |