摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第一章 简介 | 第10-14页 |
·动机 | 第10页 |
·论文的任务 | 第10-11页 |
·故障模拟的重要性 | 第11-14页 |
·评价测试用例的质量 | 第11页 |
·与ATPG共同应用 | 第11页 |
·建立故障列表 | 第11-12页 |
·节约芯片面积并且节能 | 第12-14页 |
第二章 测试相关术语的解释 | 第14-28页 |
·测试 | 第14-16页 |
·穷举测试 | 第15页 |
·功能性测试 | 第15页 |
·基于故障模型的测试 | 第15-16页 |
·故障模型 | 第16-19页 |
·固定逻辑故障模型 | 第16-17页 |
·传输故障模型 | 第17-18页 |
·路径延时故障模型 | 第18-19页 |
·跨接故障模型 | 第19页 |
·关于测试生成的定义 | 第19-24页 |
·测试向量 | 第19-20页 |
·测试用例 | 第20页 |
·可测性与可控性 | 第20-21页 |
·自动测试向量生成(ATPG) | 第21-22页 |
·扫描测试 | 第22-23页 |
·故障诊断状态 | 第23页 |
·故障覆盖率 | 第23-24页 |
·故障模拟相关定义 | 第24-25页 |
·故障消减 | 第24-25页 |
·无法诊断故障 | 第25页 |
·故障模拟方法 | 第25-28页 |
第三章 软硬件环境说明 | 第28-38页 |
·硬件结构概览 | 第28-31页 |
·内核系统资源 | 第28-30页 |
·片上外围设备系统 | 第30-31页 |
·软件环境 | 第31-38页 |
·ClearCase | 第31-32页 |
·AGENt环境 | 第32-34页 |
·逻辑模拟器 | 第34页 |
·故障模拟器和故障管理器 | 第34-36页 |
·向量故障模拟 | 第36-38页 |
第四章 故障模拟流程 | 第38-62页 |
·故障模拟预备知识 | 第38-40页 |
·单次的故障模拟运行 | 第40-42页 |
·多次故障模拟运行 | 第42-44页 |
·故障模拟步骤细节阐述 | 第44-48页 |
·用逻辑模拟器来检测测试用例的正确性 | 第44-45页 |
·以gmake编译测试用例 | 第45页 |
·运行逻辑模拟器来产生EVCD文件并将它转化为WGL文件 | 第45-46页 |
·在Z01X中编译并逻辑模拟被诊断电路 | 第46页 |
·在Z01X故障管理器中进行故障模拟 | 第46-48页 |
·自动化故障模拟流程 | 第48-54页 |
·自动化故障模拟运行步骤 | 第48-50页 |
·建立起故障模拟的工作目录和数据存储目录 | 第50-51页 |
·将所需的源文件链接到工作目录下 | 第51页 |
·实施逻辑模拟 | 第51-52页 |
·用perl脚本来得到注入时间 | 第52-53页 |
·用Awk脚本来添加诊断时间 | 第53页 |
·配置故障模拟器以及运行故障模拟 | 第53-54页 |
·登录入模拟结果 | 第54页 |
·合并两个故障列表文件 | 第54-62页 |
·还原可消减故障 | 第58-59页 |
·对故障列表进行排序 | 第59-60页 |
·合并故障列表 | 第60-62页 |
第五章 故障模拟测试结果 | 第62-64页 |
·提高电路中CPU模块的覆盖率 | 第62-64页 |
第六章 结论 | 第64-66页 |
致谢 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-69页 |
附录 简写对照表 | 第69-72页 |