| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 插图索引 | 第10-12页 |
| 附表索引 | 第12-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-19页 |
| ·引言 | 第13-14页 |
| ·可测性设计与测试概况及意义 | 第14-16页 |
| ·本文研究的目的和意义 | 第16-18页 |
| ·主要工作 | 第18页 |
| ·本文的结构 | 第18-19页 |
| 第2章 集成电路测试的基本理论 | 第19-35页 |
| ·引言 | 第19页 |
| ·集成电路测试中的基本知识 | 第19-26页 |
| ·故障和故障模型 | 第19-21页 |
| ·测试生成 | 第21-22页 |
| ·测试生成算法 | 第22-26页 |
| ·电路模型、测试生成、故障模型和覆盖评估准则的关系 | 第26-27页 |
| ·可测试性设计常用方法 | 第27-33页 |
| ·测试点插入技术 | 第27-28页 |
| ·扫描设计 | 第28-32页 |
| ·内建自测试 | 第32-33页 |
| ·测试压缩的方法 | 第33页 |
| ·测试激励压缩 | 第33页 |
| ·测试响应压缩 | 第33页 |
| ·小结 | 第33-35页 |
| 第3章 树形向量解压缩器 | 第35-43页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·树形向量解压缩器 | 第35-38页 |
| ·BAST 扫描结构 | 第35-37页 |
| ·基本构造及原理 | 第37-38页 |
| ·翻转控制的实现 | 第38-42页 |
| ·解码块 | 第38-40页 |
| ·信号控制 | 第40页 |
| ·翻转的实现 | 第40-42页 |
| ·小结 | 第42-43页 |
| 第4章 一种基于树形向量解压缩器的算法 | 第43-52页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·压缩算法 | 第43-50页 |
| ·算法流程 | 第43-45页 |
| ·输入输出关系 | 第45-46页 |
| ·压缩算法的实现 | 第46-50页 |
| ·实验结果与分析 | 第50-51页 |
| ·试验过程 | 第50-51页 |
| ·实验结果分析 | 第51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 结束语 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间发表的论文和参加的项目 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |