| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 致谢 | 第12-16页 |
| 插图清单 | 第16-19页 |
| 表格清单 | 第19-21页 |
| 第1章 绪论 | 第21-33页 |
| ·研究动因 | 第21-23页 |
| ·软件工程与集成电路设计 | 第23-26页 |
| ·软件工程概述 | 第23-24页 |
| ·软件工程与集成电路设计之间的技术转移 | 第24-26页 |
| ·基于质量管理的集成电路工程学 | 第26-29页 |
| ·本文研究对象与研究内容 | 第29-31页 |
| ·研究对象 | 第29页 |
| ·研究方法 | 第29-30页 |
| ·论文组织结构 | 第30-31页 |
| ·课题来源 | 第31-33页 |
| 第2章 集成电路IP质量管理系统与相关研究 | 第33-51页 |
| ·引言 | 第33-34页 |
| ·质量的一般定义与IP质量 | 第34-35页 |
| ·质量的一般定义 | 第34-35页 |
| ·IP质量定义 | 第35页 |
| ·集成电路IP测量理论与质量活动定义 | 第35-42页 |
| ·测量的代数定义 | 第36-37页 |
| ·度量的定义 | 第37-38页 |
| ·测量系统分类 | 第38-40页 |
| ·质量活动定义 | 第40-42页 |
| ·IP质量活动的相关研究 | 第42-50页 |
| ·质量认证 | 第42-44页 |
| ·质量评测 | 第44-46页 |
| ·质量控制 | 第46-48页 |
| ·质量改进 | 第48-49页 |
| ·质量预测 | 第49页 |
| ·本文的研究框架 | 第49-50页 |
| ·结论 | 第50-51页 |
| 第3章 集成电路IP质量定义模型与Web化质量认证系统 | 第51-71页 |
| ·引言 | 第51-52页 |
| ·IP质量定义模型研究 | 第52-58页 |
| ·软件质量定义模型的元结构 | 第52-55页 |
| ·IP质量定义模型的元结构 | 第55-56页 |
| ·FCQM模型的构建方法 | 第56-58页 |
| ·基于FCQM模型的Web化质量认证系统 | 第58-69页 |
| ·应用分析 | 第58-60页 |
| ·系统设计 | 第60-62页 |
| ·物理数据模型设计 | 第62-65页 |
| ·逻辑设计 | 第65-66页 |
| ·系统实现 | 第66-69页 |
| ·结论 | 第69-71页 |
| 第4章 商业集成电路IP黑盒评测技术研究 | 第71-97页 |
| ·引言 | 第71-72页 |
| ·软件COTS组件及其评测技术 | 第72-75页 |
| ·商业组件的黑盒评测过程 | 第73页 |
| ·商业组件评测策略 | 第73-74页 |
| ·商业组件的评测方法和技术 | 第74-75页 |
| ·集成电路IP黑盒评测技术框架 | 第75-85页 |
| ·基于交付项的集成电路IP黑盒评测框架 | 第75-78页 |
| ·黑盒评测中可交付项检查单设计 | 第78-84页 |
| ·实际应用与分析 | 第84-85页 |
| ·评测数据分析技术的研究 | 第85-95页 |
| ·数据分析方法概述及应用比较 | 第85-88页 |
| ·AHP方法在商业IP黑盒评测中的应用 | 第88-95页 |
| ·结论 | 第95-97页 |
| 第5章 集成电路IP质量控制与测量自动化 | 第97-125页 |
| ·引言 | 第97-98页 |
| ·相关研究背景 | 第98-100页 |
| ·软件质量度量方法学 | 第98-99页 |
| ·集成电路IP质量评测自动化 | 第99-100页 |
| ·集成电路IP设计质量度量定义与控制策略 | 第100-109页 |
| ·产品度量 | 第101-106页 |
| ·过程度量 | 第106-107页 |
| ·项目度量 | 第107页 |
| ·质量度量的控制策略 | 第107-109页 |
| ·基于IPqML的测量自动化系统 | 第109-122页 |
| ·测量自动化系统的总体考虑 | 第109-111页 |
| ·测量自动化框架:IPqML | 第111页 |
| ·数据接口规范定义 | 第111-115页 |
| ·可配置数据输入工具IPqMLDET | 第115-116页 |
| ·Shell接口和内置评测模块 | 第116页 |
| ·质量控制流程的规划与配置 | 第116-120页 |
| ·IPqML系统的可扩展性分析与实验结果 | 第120-122页 |
| ·结论 | 第122-125页 |
| 第6章 基于软件重构技术的IP质量改进过程 | 第125-149页 |
| ·引言 | 第125-126页 |
| ·软件模式与重构的研究背景 | 第126-128页 |
| ·模式的起源与软件模式定义 | 第126-127页 |
| ·软件重构与基于重构的设计方法学 | 第127-128页 |
| ·基于硬件微结构模式的集成电路重构方法学 | 第128-135页 |
| ·集成电路领域内的模式相关研究 | 第128-129页 |
| ·RTL级代码的结构度量与解决方案 | 第129-133页 |
| ·基于软件重构技术的集成电路质量改进活动定义 | 第133-134页 |
| ·集成电路设计质量改进的规范化过程 | 第134-135页 |
| ·基于硬件描述语言的代码重构操作 | 第135-140页 |
| ·硬件描述语言的语法特征 | 第135-136页 |
| ·基本操作定义 | 第136-139页 |
| ·基本重构操作的应用 | 第139-140页 |
| ·Viterbi解码器的代码重构案例研究 | 第140-148页 |
| ·Viterbi解码与ACS模块 | 第140-142页 |
| ·位级架构的ACS单元的代码重构研究 | 第142-147页 |
| ·度量结果比较与分析 | 第147-148页 |
| ·结论 | 第148-149页 |
| 第7章 结论 | 第149-151页 |
| ·总结 | 第149-150页 |
| ·进一步工作展望 | 第150-151页 |
| 参考文献 | 第151-159页 |
| 附录 | 第159-173页 |
| 附录一 数字软核IP的可交付项标准 | 第159-162页 |
| 附录二 GCSIPTC Metrics Schema | 第162-173页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第173页 |