DCScan：一种低功耗的扫描测试结构
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 插图索引 | 第9-10页 |
| 附表索引 | 第10-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-18页 |
| ·IC 测试技术发展概况 | 第11-12页 |
| ·扫描测试发展概况 | 第12-15页 |
| ·测试数据压缩技术 | 第13-14页 |
| ·降低测试应用时间的技术 | 第14页 |
| ·测试功耗降低技术 | 第14-15页 |
| ·本文研究目的与意义 | 第15-16页 |
| ·本文主要工作 | 第16-17页 |
| ·本文组织结构 | 第17-18页 |
| 第2章 全扫描测试的理论基础 | 第18-28页 |
| ·引言 | 第18页 |
| ·电路测试中的基本概念 | 第18-22页 |
| ·故障 | 第18-19页 |
| ·故障模型 | 第19-20页 |
| ·故障模拟 | 第20-21页 |
| ·故障等价与故障精简 | 第21页 |
| ·测试生成 | 第21页 |
| ·响应分析 | 第21-22页 |
| ·扫描设计 | 第22-26页 |
| ·DFT 方法 | 第22-23页 |
| ·全扫描测试 | 第23-26页 |
| ·全扫描测试费用 | 第26页 |
| ·低功耗测试下降低测试费用的尝试 | 第26-27页 |
| ·布线基础知识 | 第27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 第3章 DCScan:一种新的低功耗扫描测试结构 | 第28-43页 |
| ·相容性与扫描树 | 第28-30页 |
| ·DCScan 结构 | 第30-34页 |
| ·DCScan 结构描述 | 第30-31页 |
| ·DCScan 结构构造过程 | 第31-32页 |
| ·DCScan 结构分析 | 第32-34页 |
| ·扩展DCScan 结构 | 第34-36页 |
| ·实验与分析 | 第36-40页 |
| ·实验过程 | 第36-37页 |
| ·实验结果及分析 | 第37-40页 |
| ·减少硬件开销 | 第40-41页 |
| ·小结 | 第41-43页 |
| 第四章 DCScan 结构中的布线优化 | 第43-53页 |
| ·布线长度计算方法 | 第43页 |
| ·扫描单元重排序技术 | 第43-46页 |
| ·旅行商问题 | 第43-44页 |
| ·便宜算法描述 | 第44-45页 |
| ·扫描单元重排序应用及结果 | 第45-46页 |
| ·加限制的布线优化算法 | 第46-49页 |
| ·加限制的布线优化算法 | 第46页 |
| ·加限制的布线优化算法应用与结果 | 第46-49页 |
| ·小结 | 第49-53页 |
| 参考文献 | 第53-58页 |
| 附录A 攻读硕士期间发表的论文 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
