| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第11-12页 |
| ·集成电路测试设备发展现状 | 第12-13页 |
| ·研究目标 | 第13页 |
| ·本文主要研究工作 | 第13-15页 |
| 第2章 混合信号集成电路测试相关方法 | 第15-31页 |
| ·集成电路测试原理概述 | 第15-19页 |
| ·集成电路测试的意义与分类 | 第15-17页 |
| ·集成电路测试成本与产品质量 | 第17-19页 |
| ·模拟电路的开尔文连接测试方法 | 第19-22页 |
| ·负载测量的两种基本测试方法：加流测压法与电桥法 | 第20-22页 |
| ·开尔文连接测试法 | 第22页 |
| ·数字电路测试的测试生成及其主要算法 | 第22-28页 |
| ·测试生成技术 | 第23页 |
| ·单路径敏化法 | 第23-25页 |
| ·布尔差分算法 | 第25-27页 |
| ·高层设计的测试生成与测试生成系统 | 第27-28页 |
| ·数字MOS 电路静态电流固定故障测试向量集的生成 | 第28-31页 |
| ·IDDQ 基本原理 | 第28-29页 |
| ·IDDQ 测试生成 | 第29-30页 |
| ·IDDQ 固定故障测试向量的生成 | 第30-31页 |
| 第3章 混合信号集成电路自动测试设备硬件设计 | 第31-59页 |
| ·混合信号集成电路自动测试设备的结构 | 第31-35页 |
| ·集成电路自动测试系统发展概述 | 第31-33页 |
| ·集成电路自动测试系统分类 | 第33页 |
| ·混合信号集成电路自动测试系统的构成 | 第33-35页 |
| ·电压电流源（VIS）的设计 | 第35-43页 |
| ·PVI 的设计指标 | 第35-36页 |
| ·PVI 的原理与设计 | 第36-40页 |
| ·PVI 的电流扩展电路设计 | 第40-42页 |
| ·PVI 的量程切换设计 | 第42页 |
| ·PVI 的钳位电路设计 | 第42-43页 |
| ·数字电压测量（DVM）的设计 | 第43-45页 |
| ·DVM 的设计要求 | 第43-44页 |
| ·DVM 的设计原理 | 第44-45页 |
| ·解决DVM 测量中的工频干扰 | 第45页 |
| ·控制位板（CBIT）的设计 | 第45-48页 |
| ·CBIT 的设计原理 | 第45-46页 |
| ·CBIT 使用继电器的选择与驱动 | 第46-48页 |
| ·高压源（HVS）的设计 | 第48-50页 |
| ·高压发生器设计原理 | 第48-49页 |
| ·击穿反馈控制 | 第49-50页 |
| ·电压电流转换器（IVC）的设计 | 第50-54页 |
| ·IVC 的设计原理 | 第50-51页 |
| ·IVC 的电流缓冲（BUF）电路 | 第51-52页 |
| ·IVC 的电流转换电路 | 第52-54页 |
| ·时间测量单元TMU 的输入调理电路设计 | 第54-59页 |
| ·TMU 的设计指标 | 第54页 |
| ·TMU 调理电路传输线匹配问题 | 第54-56页 |
| ·TMU 的传输线问题解决方法 | 第56-57页 |
| ·TMU 的输入调理电路 | 第57-59页 |
| 第4章 集成电路自动测试系统的软件 | 第59-67页 |
| ·系统软件简介 | 第59页 |
| ·系统的测试项编辑 | 第59-63页 |
| ·系统的自检和校准 | 第63-67页 |
| 第5章 集成电路自动测试系统的实际应用 | 第67-71页 |
| ·BUCK（STEP-DOWN）型SMPS 的测试方法 | 第67-69页 |
| ·VMC 降压型模式的SMPS 原理 | 第67页 |
| ·CMC 降压型模式的SMPS 原理 | 第67-68页 |
| ·降压型SMPS 芯片测试方法 | 第68-69页 |
| ·SMPS 测试中测试设备与测试对象的连接 | 第69-71页 |
| 总结 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 附录 A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第76-77页 |
| 附录 B 50V/10A 版本 DPVI 版图 | 第77-78页 |
| 附录 C 中功率源MVI 版图 | 第78-79页 |
| 附录 D 混合信号集成电路自动测试设备外观图 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80页 |