| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 引言 | 第9-14页 |
| ·混合信号集成电路的测试 | 第9-11页 |
| ·混合信号集成电路测试的难点 | 第9-10页 |
| ·ADC测试的必要性 | 第10-11页 |
| ·研究意义 | 第11-12页 |
| ·研究现状与进展 | 第12页 |
| ·论文所做的工作 | 第12-14页 |
| 2 ADC的应用、结构和测试参数 | 第14-20页 |
| ·ADC的应用 | 第14-16页 |
| ·ADC的结构 | 第16-18页 |
| ·ADC的测试参数 | 第18-20页 |
| 3 ADC的测试装置 | 第20-29页 |
| ·测试装置描述 | 第20-21页 |
| ·时钟和输入信号的要求 | 第21-27页 |
| ·谐波失真考虑 | 第21-24页 |
| ·抖动考虑 | 第24-27页 |
| ·滤波器的选择 | 第27-28页 |
| ·数据记录 | 第28-29页 |
| 4 频域数据分析 | 第29-46页 |
| ·频域数据分析 | 第29-35页 |
| ·离散傅里叶变换(DFT)和快速傅里叶变换(FFT) | 第29页 |
| ·时钟和输入信号频率的选择 | 第29页 |
| ·窗口技术 | 第29-31页 |
| ·输入频率准确性的讨论 | 第31-33页 |
| ·记录尺寸 | 第33-35页 |
| ·小结 | 第35页 |
| ·在频域计算动态参数 | 第35-46页 |
| ·理想ADC的量化误差 | 第35-36页 |
| ·噪声水平(NFL)的估计 | 第36页 |
| ·信号与噪声及失真比(SINAD) | 第36-37页 |
| ·有效位N_(ef) | 第37页 |
| ·信噪比(SNR) | 第37-38页 |
| ·总谐波失真(THD) | 第38页 |
| ·无杂散动态范围(SFDR) | 第38页 |
| ·互调失真(IMD) | 第38-39页 |
| ·非相关采样中公式的变化 | 第39-46页 |
| 5 时域数据分析 | 第46-67页 |
| ·SINAD和Nef的时域数据测量 | 第46-54页 |
| ·定义 | 第46-47页 |
| ·固定频率法 | 第47-49页 |
| ·四参数法 | 第49-54页 |
| ·THD和SNR的时域数据测量 | 第54-60页 |
| ·定义 | 第54-55页 |
| ·多谐波正弦波曲线拟合法 | 第55-56页 |
| ·归一化角频率的估计 | 第56-58页 |
| ·线性参数的估计 | 第58页 |
| ·关于矩阵E_p的秩 | 第58-59页 |
| ·算法 | 第59-60页 |
| ·避免信号纯度问题的多音测试 | 第60-67页 |
| ·测试方法 | 第60-61页 |
| ·单音调测试和多音调测试的参数关系 | 第61页 |
| ·时域参数的计算 | 第61-67页 |
| 6 ADC测试方法的比较 | 第67-76页 |
| ·测试装置引入的误差 | 第67页 |
| ·测试方法的对比 | 第67-72页 |
| ·频域数据分析 | 第67-68页 |
| ·时域数据分析 | 第68-69页 |
| ·采样数 | 第69-70页 |
| ·测试方法的选择 | 第70-72页 |
| ·仿真结果 | 第72-76页 |
| ·仿真模型 | 第72页 |
| ·采样数 | 第72-73页 |
| ·噪声、谐波失真和非相关效应 | 第73-75页 |
| ·测试时间 | 第75-76页 |
| 7 总结与展望 | 第76-77页 |
| ·总结 | 第76页 |
| ·展望 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80页 |