基于扩展相容性扫描树的响应压缩器设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-22页 |
| ·引言 | 第13-14页 |
| ·数字电路测试的概念及方法 | 第14-16页 |
| ·功能测试和结构测试 | 第14页 |
| ·故障及故障模型 | 第14-15页 |
| ·故障模拟及故障覆盖率 | 第15-16页 |
| ·可测试性设计的研究概况 | 第16-19页 |
| ·扫描测试 | 第16-17页 |
| ·BIST | 第17-18页 |
| ·边界扫描测试 | 第18-19页 |
| ·本研究的目的与意义 | 第19-20页 |
| ·本文主要工作与组织结构 | 第20-22页 |
| 第2章 全扫描测试 | 第22-27页 |
| ·引言 | 第22页 |
| ·伊利诺伊扫描测试结构 | 第22-23页 |
| ·多扫描链测试结构 | 第23-24页 |
| ·扫描树技术 | 第24-25页 |
| ·扩展相容性扫描树结构 | 第25-26页 |
| ·小结 | 第26-27页 |
| 第3章 测试响应压缩及故障模拟器 | 第27-39页 |
| ·引言 | 第27页 |
| ·测试响应压缩 | 第27-31页 |
| ·空间压域缩器 | 第28-30页 |
| ·空间域和时间域混合压缩器 | 第30-31页 |
| ·故障模拟器 | 第31-38页 |
| ·故障模拟器PROOFS | 第31-35页 |
| ·故障模拟器HOPE | 第35-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第4章 扩展相容性扫描树中的测试响应压缩器设计 | 第39-50页 |
| ·引言 | 第39-40页 |
| ·基于扩展相容性扫描树的测试响应压缩器设计 | 第40-48页 |
| ·已有的适用于扩展相容性扫描树的响应压缩器 | 第40-41页 |
| ·利用电路结构信息减少扫描输出 | 第41-43页 |
| ·基于扩展相容性扫描树的测试响应压缩器设计方法 | 第43-46页 |
| ·模拟仿真 | 第46-48页 |
| ·实验结果 | 第48-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第5章 基于扫描链阻塞技术的低费用测试生成方法 | 第50-58页 |
| ·引言 | 第50页 |
| ·基于扫描链阻塞技术的低费用测试生成方法 | 第50-56页 |
| ·扫描链阻塞技术 | 第51-52页 |
| ·基于扫描链阻塞技术的低费用测试方案 | 第52-53页 |
| ·基于扫描链阻塞技术的低费用测试生成方法 | 第53-56页 |
| ·实验结果 | 第56-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 结束语 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间发表的论文和参加的项目 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
