基于多扫描电路的内建自测试方法研究

摘要	第1-6页
Abstract	第6-10页
第1章 绪论	第10-25页
·研究的背景和意义	第10-11页
·集成电路的测试技术	第11-16页
·测试的基本原理	第11页
·测试的定义	第11-12页
·测试方法	第12-15页
·测试的基本问题	第15-16页
·可测试性技术	第16-22页
·芯片级可测试性设计	第17-19页
·系统级可测试性设计	第19-22页
·本文的内容重点及结构安排	第22-25页
第2章 逻辑 BIST模式生成综述	第25-38页
·内建自测试概述	第25-26页
·BIST测试分类	第26-29页
·测试模式生成	第29-37页
·穷举测试	第30页
·伪穷举测试	第30页
·伪随机测试	第30-33页
·加权测试	第33-34页
·存储与生成的测试方法	第34-37页
·本章小结	第37-38页
第3章 基于移相器的逻辑内建自测试设计方法	第38-53页
·移相器的应用	第38-40页
·移相器原理	第40-45页
·基于移相器的内建自测试实现算法	第45-49页
·改进的基于移相器内建自测试算法实现	第46-49页
·实验结果	第49-51页
·本章小结	第51-53页
第4章 混合模式内建自测试方法研究	第53-68页
·STUMPS基本测试框架	第53-54页
·混合模式内建自测试	第54-55页
·选择多个单元相容数据重播种内建自测试方法	第55-62页
·实验结果	第62-67页
·本章小结	第67-68页
结论	第68-70页
参考文献	第70-73页
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果	第73-74页
致谢	第74页