无关位在被测电路自己施加测试矢量方法中的研究与应用
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·研究背景 | 第11-12页 |
| ·集成电路测试概述 | 第12-15页 |
| ·集成电路测试及分类 | 第12-13页 |
| ·系统芯片测试 | 第13-14页 |
| ·自动测试设备 | 第14页 |
| ·可测试性设计 | 第14-15页 |
| ·研究内容 | 第15-16页 |
| ·无关位在被测电路自己施加测试矢量方法中的应用 | 第15页 |
| ·一般反馈方式中动态变换无关位的方法 | 第15-16页 |
| ·论文的组织结构 | 第16-17页 |
| 第2章 数字集成电路测试基本理论和方法 | 第17-32页 |
| ·数字集成电路测试基础 | 第17-21页 |
| ·故障模型 | 第17-18页 |
| ·测试生成 | 第18-19页 |
| ·故障模拟 | 第19-20页 |
| ·响应分析 | 第20-21页 |
| ·可测试性设计方法 | 第21-23页 |
| ·扫描设计 | 第21-22页 |
| ·边界扫描法 | 第22-23页 |
| ·内建自测试 | 第23-29页 |
| ·基本介绍 | 第23-25页 |
| ·内建自测试的结构 | 第25-26页 |
| ·内建自测试的测试生成方法 | 第26-27页 |
| ·循环自测试路径系统 | 第27-29页 |
| ·测试数据中的X 位 | 第29-31页 |
| ·测试矢量和响应矢量中的X 位 | 第29-30页 |
| ·无关位在测试中的应用 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第3章 无关位在一种自反馈测试方法中的应用 | 第32-42页 |
| ·Mintest测试集及其无关位 | 第32-33页 |
| ·由被测电路自己施加测试矢量的BIST 方法 | 第33-35页 |
| ·无关位的赋值 | 第35-39页 |
| ·基本思想 | 第36页 |
| ·无关位的赋值 | 第36-39页 |
| ·算法描述 | 第39-40页 |
| ·反馈节点的选择 | 第40页 |
| ·后续处理过程 | 第40-41页 |
| ·小结 | 第41-42页 |
| 第4章 在一般反馈方式中动态变换无关位 | 第42-47页 |
| ·基本思想 | 第42-43页 |
| ·算法描述 | 第43-44页 |
| ·矢量精简 | 第44-45页 |
| ·动态算法和静态算法的比较 | 第45-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第5章 无关位应用的实现过程和结果分析 | 第47-53页 |
| ·实验的基本介绍 | 第47-48页 |
| ·分组完全反馈 | 第48-49页 |
| ·一般反馈方式 | 第49-52页 |
| ·一般反馈 | 第49-50页 |
| ·改变反馈方式的方法 | 第50-51页 |
| ·三次反馈 | 第51-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第60-61页 |
| 附录B 攻读学位期间所参与的科研活动 | 第61页 |
