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集成电路产品测试管理系统

摘要第1-4页
Abstract第4-5页
第一章 绪论第5-9页
   ·课题背景第5页
   ·国内外研究现状第5-7页
   ·论文研究的主要内容第7-9页
第二章 测试设备与配件第9-23页
   ·测试设备的基本功能第9-10页
   ·测试机的测试原理及问题第10-22页
   ·本章小结第22-23页
第三章 产品测试数据分析第23-39页
   ·产品测试的良率分析第23-29页
   ·产品测试数据的统计第29-37页
   ·本章小结第37-39页
第四章 产品测试管理系统的设计第39-50页
   ·数据库的概念设计第39-40页
   ·数据库的逻辑设计第40-41页
   ·数据库的物理设计第41-42页
   ·系统的实现第42-49页
   ·本章小结第49-50页
第五章 产品测试管理系统完成第50-53页
   ·数据输入第50页
   ·测试结构文件上传第50-51页
   ·产品测试在线预警第51页
   ·数据查询和分析第51-52页
   ·系统设置第52-53页
小结第53-54页
参考文献第54-55页
致谢第55-56页

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