| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 致谢 | 第12-20页 |
| 第一章 绪论 | 第20-32页 |
| ·基于NoC 的众核芯片概述 | 第20-21页 |
| ·基于NoC 的众核芯片测试的关键问题与研究意义 | 第21-26页 |
| ·单芯核的测试功耗问题 | 第22-23页 |
| ·测试时间问题——三个关键问题中的核心问题 | 第23-25页 |
| ·众核测试的测试时间过长的问题 | 第23-24页 |
| ·为缩短测试时间而带来的新问题——测试时序问题 | 第24-25页 |
| ·热斑问题 | 第25-26页 |
| ·三个关键问题中核心问题（测试时间问题）的解决途径与研究现状 | 第26-29页 |
| ·测试数据传输的并行性 | 第26-27页 |
| ·测试活动的并行性 | 第27-29页 |
| ·多播测试技术小结 | 第29页 |
| ·本文的工作 | 第29-30页 |
| ·博士论文的组织结构 | 第30-32页 |
| 第二章 测试技术基础 | 第32-52页 |
| ·VLSI 基础测试技术 | 第32-35页 |
| ·测试概述 | 第32-33页 |
| ·可测试性设计技术 | 第33-34页 |
| ·扫描测试 | 第34-35页 |
| ·NoC 概述 | 第35-36页 |
| ·基于NoC 的众核芯片的测试技术 | 第36-51页 |
| ·NoC 内嵌芯核的测试 | 第36-45页 |
| ·重用NoC 进行测试 | 第37-38页 |
| ·测试调度 | 第38-40页 |
| ·测试访问方法和测试接口 | 第40-41页 |
| ·测试中的网络重用 | 第41-44页 |
| ·考虑功耗和考虑热量的测试 | 第44-45页 |
| ·NoC 自身的测试 | 第45-51页 |
| ·互连线的测试 | 第45-47页 |
| ·路由器的测试 | 第47-49页 |
| ·测试网络接口和集成系统测试 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第三章 低功耗测试技术的研究与分析 | 第52-70页 |
| ·低功耗测试技术概述 | 第52-53页 |
| ·测试功耗的基本概念 | 第53-55页 |
| ·测试功耗的产生 | 第53页 |
| ·测试功耗的组成 | 第53-54页 |
| ·平均测试功耗与峰值测试功耗 | 第54-55页 |
| ·测试功耗的影响 | 第55-62页 |
| ·热量 | 第55-60页 |
| ·噪声 | 第60-61页 |
| ·其他影响 | 第61-62页 |
| ·测试功耗优化技术 | 第62-67页 |
| ·测试向量的优化 | 第62-64页 |
| ·扫描链的修改 | 第64-66页 |
| ·低功耗BIST | 第66-67页 |
| ·测试功耗的研究热点与前瞻 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-70页 |
| 第四章 单核扫描测试中动态、静态功耗协同优化技术 | 第70-80页 |
| ·引言 | 第70-71页 |
| ·PowerSluice 的功耗闸门设计 | 第71-73页 |
| ·PowerSluice 的静态功耗优化方法 | 第73-77页 |
| ·静态功耗优化原理 | 第73-74页 |
| ·低静态功耗状态控制 | 第74-77页 |
| ·实验结果 | 第77-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第五章 基于NoC 的多播测试技术 | 第80-95页 |
| ·引言 | 第80-81页 |
| ·多播路径测试方法(MPTM) | 第81-89页 |
| ·测试访问路径生成算法 | 第81-85页 |
| ·支持片上响应比较的多播测试机制 | 第85-88页 |
| ·支持多播路径测试的多播通信协议 | 第85-87页 |
| ·片上测试响应比较结构 | 第87-88页 |
| ·支持片上响应比较的多播测试过程 | 第88-89页 |
| ·多播测试访问路径的并行 | 第89页 |
| ·实验与分析 | 第89-93页 |
| ·三种ITC’02 基准电路上MPTM 与串行测试时间的比较 | 第90-91页 |
| ·MPTM 对于大规模众核系统芯片的效果 | 第91-92页 |
| ·同构核分布情况对MPTM 的影响 | 第92页 |
| ·不同规模网络中TAP 长度的比较 | 第92-93页 |
| ·本章小结 | 第93-95页 |
| 第六章 热量约束下的多播测试技术 | 第95-108页 |
| ·引言 | 第95-96页 |
| ·多播测试中的热斑问题 | 第96-97页 |
| ·热量约束下的TAP 优化方法 | 第97-102页 |
| ·众核芯片与热斑相关的定义 | 第97-98页 |
| ·单条TAP 中的同构核并发测试的热斑问题 | 第98-99页 |
| ·避免单条TAP 中的同构核并发测试形成热斑 | 第99-100页 |
| ·避免多类芯核同时测试、多条TAP 并存形成热斑 | 第100-102页 |
| ·实验与分析 | 第102-106页 |
| ·本章小结 | 第106-108页 |
| 第七章 结束语 | 第108-110页 |
| ·博士阶段工作总结 | 第108-109页 |
| ·未来工作设想 | 第109-110页 |
| 硕博连读期间参加项目与发表论文情况 | 第110-112页 |
| 硕博连读期间参加的科研项目 | 第110页 |
| 硕博连读阶段已发表/录用的文章 | 第110-112页 |
| 参考文献 | 第112-121页 |