| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 引言 | 第6-8页 |
| 第一章 P67抽样老化的背景和现状 | 第8-16页 |
| 第一节 P67抽样老化的背景 | 第8-9页 |
| 第二节 老化的基本理论 | 第9-11页 |
| 第三节 P67抽样老化率的计算 | 第11-16页 |
| 第二章 抽样老化率降低方法的研究 | 第16-27页 |
| 第一节 P67 DPM_ZERO_BI和DPM_FULL_BI的决定因素 | 第16-17页 |
| 第二节 老化电压和老化温度的研究 | 第17-20页 |
| 第三节 工序的改进 | 第20-23页 |
| 第四节 高电压应力测试研究 | 第23-27页 |
| 第三章 P67抽样老化和去除老化的数据验证 | 第27-31页 |
| 第一节 P67抽样老化的数据验证 | 第27-28页 |
| 第二节 P67去除老化的数据验证 | 第28-31页 |
| 第四章 后记 | 第31-33页 |
| 第一节 研究工作总结 | 第31-32页 |
| 第二节 研究成果总结 | 第32-33页 |
| 参考文献 | 第33-35页 |
| 致谢 | 第35-36页 |