| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-14页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第11页 |
| ·研究现状及发展趋势 | 第11-12页 |
| ·主要工作及论文组织结构 | 第12-14页 |
| 第二章 集成电路设计验证综述 | 第14-18页 |
| ·模拟验证 | 第14-15页 |
| ·软件模拟 | 第14-15页 |
| ·硬件仿真 | 第15页 |
| ·形式验证 | 第15-16页 |
| ·半形式验证 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第三章 System Verilog 及VMM 验证方法学 | 第18-24页 |
| ·SystemVerilog 的特点 | 第18-20页 |
| ·设计验证语言的统一 | 第19页 |
| ·面向对象编程 | 第19页 |
| ·约束随机 | 第19-20页 |
| ·功能覆盖率 | 第20页 |
| ·断言验证 | 第20页 |
| ·SystemVerilog 验证环境架构 | 第20-21页 |
| ·VMM 验证方法学 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第四章 断言验证及功能覆盖率 | 第24-42页 |
| ·断言的概念及作用 | 第24-26页 |
| ·断言提高设计可观测性 | 第24-25页 |
| ·断言缩短调试时间 | 第25页 |
| ·IP 中的断言有利于IP 集成 | 第25-26页 |
| ·断言的建立 | 第26-31页 |
| ·SVA 断言的基本组件 | 第26-28页 |
| ·SVA 断言的分类 | 第28-29页 |
| ·断言与设计的连接 | 第29-31页 |
| ·System Verilog 断言库的使用 | 第31-32页 |
| ·代码覆盖率收集 | 第32-33页 |
| ·断言覆盖率收集 | 第33-34页 |
| ·功能覆盖率 | 第34-41页 |
| ·功能覆盖率建模 | 第35-36页 |
| ·功能覆盖率收集 | 第36-37页 |
| ·功能覆盖率与随机验证的结合 | 第37-38页 |
| ·功能覆盖率对验证工作的指导 | 第38-40页 |
| ·功能覆盖率对仿真的控制 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第五章 网络报文处理转发芯片验证环境搭建 | 第42-55页 |
| ·网络报文处理转发芯片的功能及需求规格 | 第42-43页 |
| ·芯片功能 | 第42页 |
| ·芯片需求规格 | 第42-43页 |
| ·网络报文处理转发芯片总体结构 | 第43-44页 |
| ·验证环境的搭建 | 第44-46页 |
| ·芯片验证特性分解及功能覆盖率建模 | 第46-49页 |
| ·芯片验证特性分解 | 第46-48页 |
| ·功能覆盖率建模 | 第48-49页 |
| ·网络报文处理转发芯片断言的插入 | 第49-52页 |
| ·测试用例的开发 | 第52-53页 |
| ·验证工具的设置及验证的运行 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 验证结果 | 第55-70页 |
| ·用例执行结果的确认和设计问题的定位 | 第55-56页 |
| ·代码覆盖率及结果分析 | 第56-58页 |
| ·功能覆盖率及结果分析 | 第58-65页 |
| ·断言覆盖率及结果分析 | 第65-67页 |
| ·模拟验证改进后取得的效果 | 第67-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 总结 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |