基于遗传算法的自反馈测试生成方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-16页 |
| ·研究背景 | 第12-15页 |
| ·集成电路发展趋势对测试的影响 | 第12-13页 |
| ·当前常用的测试方法及其局限性 | 第13-14页 |
| ·遗传算法在电路测试中的应用 | 第14-15页 |
| ·本文主要贡献 | 第15页 |
| ·文章的组织结构 | 第15-16页 |
| 第2章 数字电路测试技术和遗传算法的基本理论 | 第16-35页 |
| ·故障和故障模型 | 第16-18页 |
| ·故障模拟基础 | 第18-20页 |
| ·故障检测 | 第18页 |
| ·故障等价 | 第18-19页 |
| ·故障压缩 | 第19-20页 |
| ·测试生成 | 第20-24页 |
| ·可测性设计 | 第24-27页 |
| ·遗传算法 | 第27-34页 |
| ·遗传算法的设计过程和特点 | 第28-29页 |
| ·染色体编码 | 第29-30页 |
| ·适应性函数 | 第30页 |
| ·遗传算子 | 第30-32页 |
| ·遗传算法在测试生成中的应用 | 第32-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 第3章 自反馈测试生成方法的原理和关键技术 | 第35-49页 |
| ·自反馈测试生成方法的基本原理 | 第35-36页 |
| ·种子向量的选择 | 第36-41页 |
| ·计算权集 | 第41-42页 |
| ·内部反馈节点的选择 | 第42-45页 |
| ·种子向量和反馈节点的匹配问题 | 第45-46页 |
| ·估计测试集的故障覆盖率 | 第46-47页 |
| ·小结 | 第47-49页 |
| 第4章 基于遗传算法的自反馈测试生成方法的实现 | 第49-57页 |
| ·多加权集自反馈测试生成方法 | 第49-53页 |
| ·多加权集自反馈测试生成方法简介 | 第49-50页 |
| ·遗传算法的应用 | 第50-51页 |
| ·算法流程 | 第51-52页 |
| ·实验结果 | 第52-53页 |
| ·自反馈重播种测试生成方法 | 第53-56页 |
| ·重播种自反馈测试生成方法简介 | 第53-54页 |
| ·重播种中的种子选取 | 第54页 |
| ·算法流程 | 第54-55页 |
| ·实验结果 | 第55-56页 |
| ·分析与总结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 附录A (攻读硕士期间发表的论文) | 第65-66页 |
| 附录B (攻读硕士期间参与的科研项目) | 第66页 |
