| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·集成电路自动测试系统的概念及意义 | 第10-11页 |
| ·集成电路自动测试系统组成与分类 | 第11-12页 |
| ·集成电路自动测试系统发展现状 | 第12-14页 |
| ·课题来源及系统的主要技术指标 | 第14-16页 |
| ·课题研究的主要内容及组织结构 | 第16-18页 |
| 第2章 IC 测试原理及其方法 | 第18-25页 |
| ·测试和测试向量的必要性 | 第18-19页 |
| ·测试技术种类 | 第19-20页 |
| ·测试原理及其方法 | 第20-25页 |
| ·直流参数测试 | 第20-21页 |
| ·交流参数测试 | 第21-22页 |
| ·采样与重建 | 第22页 |
| ·电源电流测试 | 第22页 |
| ·DAC 和ADC 测试规格 | 第22-23页 |
| ·存储器芯片测试 | 第23-24页 |
| ·逻辑器件测试 | 第24-25页 |
| 第3章 系统硬件设计 | 第25-37页 |
| ·系统电源分配 | 第25-26页 |
| ·各单元板功能及其原理 | 第26-37页 |
| ·系统接口板的设计与实现 | 第26-27页 |
| ·继电器驱动板的设计与实现 | 第27-29页 |
| ·测量板（QVM）的设计与实现 | 第29-30页 |
| ·电压电流源的设计与实现 | 第30-34页 |
| ·交流信号源及交流测量板（ACSM）的设计与实现 | 第34-35页 |
| ·烧铝电源板的设计与实现 | 第35-37页 |
| 第4章 系统软件设计 | 第37-49页 |
| ·底层驱动程序的设计与实现 | 第37-39页 |
| ·自动测试系统软件介绍 | 第37页 |
| ·系统软件设计 | 第37-39页 |
| ·测试程序的设计 | 第39-41页 |
| ·测试程序的介绍 | 第39页 |
| ·测试程序的实现 | 第39-41页 |
| ·测试程序界面及人机交换过程 | 第41-49页 |
| 第5章 集成电路测试系统的实际应用 | 第49-59页 |
| ·集成运算放大器的测试方法和原理 | 第49-56页 |
| ·集成运算放大器的测试的原理及其方法 | 第50-52页 |
| ·对于V_(OS) 的烧调 | 第52-54页 |
| ·影响运算放大器闭环参数测试精度的主要因素及解决措施 | 第54-56页 |
| ·测试数据 | 第56页 |
| ·HX5031-A01 测试方法和原理 | 第56-59页 |
| ·测试原理及方法 | 第57-58页 |
| ·影响测试的因素 | 第58页 |
| ·测试数据 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第65-66页 |
| 附录B 攻读学位期间所参加的科研项目 | 第66-67页 |
| 附录C 本文研发的自动测试系统产品外观图 | 第67页 |