C语言集成电路ATE应用程序的自动分析转换

摘要	第1-6页
ABSTRACT	第6-14页
1 绪论	第14-27页
·集成电路测试过程与自动测试设备（ATE）	第14-19页
·集成电路的测试	第14-17页
·ATE 简介	第17-18页
·测试编程	第18-19页
·过程化ATE 应用程序的转换工作	第19-23页
·基于概念的源代码分析方法	第23-25页
·再议程序转换	第23-24页
·关于源代码分析技术	第24-25页
·本课题的目标	第25-27页
2 ATE 应用程序转换工具的总体设计	第27-31页
·作为示例的某种C 语言ATE 测试程序	第27-29页
·转换工具的组成部分	第29-31页
3 详细设计实现	第31-67页
·从源代码获取抽象语法树（AST）	第31-34页
·GCC 输出AST 的形式	第32页
·从GCC AST 到XML	第32-33页
·对程序代码的预处理	第33页
·对GCC 的修改	第33-34页
·控制流图、数据依赖等程序表示的构建	第34-35页
·AST 的数据结构表示	第34页
·从AST 得到程序控制流图	第34-35页
·从程序流图得到数据依赖关系	第35页
·ATE 测试方法的识别以及测试参数的提取	第35-61页
·基于概念的源代码分析方法	第35-36页
·本课题的查询描述的设计	第36-41页
·本课题的查询描述的实现	第41-61页
·应用概念库的构建	第61-62页
·其他	第62-65页
·程序中测试项目的切割	第62-63页
·字符串分析手段的应用	第63-65页
·利用模版生成目标ATE 平台应用程序	第65-67页
4 实验评价结果	第67-68页
5 结论	第68-69页
参考文献	第69-70页
附录	第70-72页
致谢	第72-73页
攻读学位期间发表的学术论文	第73页