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边界扫描测试建模关键技术研究
SoC测试优化及其应用技术研究
SOC可测性技术研究与实现
基于主动红外和超声扫描的倒装芯片缺陷检测研究
基于超声激励的倒装芯片缺陷检测技术研究
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可重构硬件自诊断与自修复技术研究
基于扫描链阻塞技术的时延测试低费用方法研究
GHz级数字模块的测试结构设计与实现
Complex Programmable Logic Device的检测与分析
运用实验设计方法解决集成电路封装测试中胶体弯曲问题
基于千兆Switch的NAS服务器管理模块硬件设计和测试
以低成本测试机实现含高速接口电路芯片测试技术
嵌入式SRAM内建自测试的测试实现
多路数模混合马达驱动芯片测试技术开发及实现
基于FPGA的视频接口芯片测试系统的研究与设计
0.5微米光罩式只读存储器工艺导入研究及良率提升
深亚微米FPGA互连抗软错误方法研究
单粒子脉宽抑制和单粒子测试方法研究
USB主控芯片测试系统的设计与实现
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基于PXI的通信芯片低成本测试方案
晶圆针测的早期异常发现分析与研究
先进EFA电性失效分析定位技术及其PFA物理验证技术研究
基于ATE的FPGA测试
光刻可行性测试的实现及其优化方法
SH2000集成电路测试系统PCI驱动及上位机软件的研制
微波平面电路网络S参数测试校准方法的研究
基于FPGA的数字IC时间参数测试技术研究
基于USB的电路板故障诊断技术
电路板故障诊断系统测试程序开发环境的设计与实现
模拟IC直流参数测试硬件技术研究与实现
集成电路测试仪通信驱动与中间层软件设计
集成电路测试仪控制模块及驱动设计
片上网络（NoC）的互连串扰测试方法研究
适应MCM关键制造工艺的试验设计算法研究与软件实现
基于CPLD和ARM的边界扫描主控系统的设计与实现
多板卡电子系统的可测性设计与实现
数字集成电路测试仪测试通道电路设计
基于LabVIEW的芯片测试系统设计与实现
基于LXI总线框架的自动化IC测试系统硬件设计
基于多总线自动测试系统的测试与诊断技术研究
电路板智能故障诊断算法研究
脉沖磁芯性能测试系统设计
基于FPGA的高精密可程控电压源的研究与设计
数字IC测试仪的研究与设计
采用非接触电导检测的PDMS电泳微芯片
印刷电路板缺陷检测技术及系统实现研究
汽车级芯片封测、失效分析及质量管理
基于模型诊断的若干问题研究
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