ATE测试向量转换方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 主要符号表 | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·研究的目的和意义 | 第10-12页 |
| ·主要研究工作 | 第12页 |
| ·论文的章节安排 | 第12-14页 |
| 第二章 ATE 测试技术研究 | 第14-26页 |
| ·IC 测试方法 | 第14-16页 |
| ·测试目的 | 第14-15页 |
| ·测试手段 | 第15页 |
| ·ATE 测试的优缺点 | 第15-16页 |
| ·ATE 测试平台 | 第16-20页 |
| ·ATE 硬件构架 | 第16-18页 |
| ·ATE 软件环境 | 第18-19页 |
| ·ATE 测试信号合成方法 | 第19-20页 |
| ·ATE 测试开发技术 | 第20-25页 |
| ·测试接口板设计 | 第21-23页 |
| ·测试向量转换 | 第23页 |
| ·测试程序调试 | 第23-24页 |
| ·测试程序优化 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 ATE 测试向量转换技术研究 | 第26-33页 |
| ·向量转换过程分析 | 第26-27页 |
| ·向量转换关键技术 | 第27-32页 |
| ·VCD 电平分离 | 第27-28页 |
| ·测试时序提取 | 第28-30页 |
| ·测试向量生成 | 第30页 |
| ·测试向量压缩 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 ATE 测试时序优化算法研究 | 第33-42页 |
| ·ATE 的测试时序 | 第33-34页 |
| ·VCD 的语法结构 | 第34-37页 |
| ·时序优化算法研究 | 第37-40页 |
| ·时序优化技巧 | 第37页 |
| ·时序优化算法 | 第37-39页 |
| ·时间分辨率的降低 | 第39-40页 |
| ·试验结果 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第五章 ATE 测试向量转换软件的实现 | 第42-54页 |
| ·软件开发平台的选取 | 第42-44页 |
| ·软件的模块化结构 | 第44-45页 |
| ·软件的输入/输出接口 | 第45-46页 |
| ·软件的实现 | 第46-47页 |
| ·软件的主要功能 | 第47-52页 |
| ·配置文件生成 | 第48-49页 |
| ·测试时序优化 | 第49-50页 |
| ·测试向量转换 | 第50-51页 |
| ·测试向量编译 | 第51-52页 |
| ·具体应用实例 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 结论 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附录 | 第60页 |
