以太网控制器芯片的测试技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-14页 |
| ·以太网发展概述 | 第11页 |
| ·以太网控制器芯片测试的作用 | 第11-12页 |
| ·论文选题依据和内容安排 | 第12-14页 |
| 第二章 以太网技术和以太网控制器芯片测试的介绍 | 第14-24页 |
| ·以太网技术介绍 | 第14-16页 |
| ·以太网控制器的测试介绍 | 第16-21页 |
| ·测试的基本原理 | 第16-17页 |
| ·测试类型与概念 | 第17-18页 |
| ·集成电路测试面临的挑战 | 第18-19页 |
| ·与NE2000 型兼容的以太网控制器的测试介绍 | 第19-21页 |
| ·国内外测试技术发展现状 | 第21-24页 |
| 第三章 以太网控制器测试平台设计 | 第24-41页 |
| ·以太网控制器测芯片的结构和工作方式 | 第24-26页 |
| ·以太网控制芯片的结构 | 第24-25页 |
| ·以太网控制器的工作流程 | 第25-26页 |
| ·测试系统的设计思想 | 第26-27页 |
| ·以太网控制器测试平台设计 | 第27-36页 |
| ·测试数据传输接口 | 第27-31页 |
| ·以太网络数据传输介质 | 第27-29页 |
| ·ISA 接口 | 第29-31页 |
| ·测试生成和测试响应观测平台设计 | 第31-36页 |
| ·ISA 接口数字激励生成 | 第31-32页 |
| ·MSP430 系列单片机 | 第32-33页 |
| ·双绞线信号激励生成 | 第33-34页 |
| ·软件Sniffer | 第34-36页 |
| ·测试系统平台硬件的实现 | 第36-40页 |
| ·测试平台的实现 | 第36-38页 |
| ·以太网控制器芯片测试板卡设计 | 第38-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 测试向量生成 | 第41-68页 |
| ·PNP 识别测试 | 第41-46页 |
| ·PNP 原理 | 第42-45页 |
| ·初始化 | 第43-44页 |
| ·隔离 | 第44-45页 |
| ·资源配置 | 第45页 |
| ·测试流程 | 第45-46页 |
| ·PNP 测试方法小结 | 第46页 |
| ·以太网控制器芯片的初始化测试 | 第46-56页 |
| ·初始化配置设置 | 第47-55页 |
| ·以太网控制芯片的物理地址设定 | 第55-56页 |
| ·寄存器测试方法 | 第56页 |
| ·数据包接收测试 | 第56-61页 |
| ·数据接收流程 | 第56-60页 |
| ·本地DMA | 第57页 |
| ·数据接收缓冲区 | 第57-60页 |
| ·测试方法和流程 | 第60-61页 |
| ·数据包发送测试 | 第61-63页 |
| ·以太网控制器芯片发送数据包过程 | 第62页 |
| ·以太网控制器数据包发送测试方法 | 第62-63页 |
| ·以太网控制器芯片中断信号测试 | 第63-64页 |
| ·回环测试 | 第64-67页 |
| ·回环测试介绍 | 第64-66页 |
| ·回环测试实现方案和关键 | 第66-67页 |
| ·链路脉冲测试 | 第67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 基于测试平台的实验结果 | 第68-78页 |
| ·PNP 测试 | 第68-71页 |
| ·数据包接收实验结果 | 第71-72页 |
| ·数据包发送测试结果 | 第72-74页 |
| ·回环测试实验 | 第74-76页 |
| ·数据链路测试 | 第74页 |
| ·CRC 逻辑测试 | 第74-76页 |
| ·链路脉冲实验结果 | 第76-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 总结 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |
| 附录 测试代码 | 第83-98页 |
