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一种基于JTAG标准的X-DSP芯片调试/测试部件的设计与实现

摘要第1-10页
ABSTRACT第10-11页
第一章 绪论第11-19页
   ·课题研究背景第11页
   ·测试理论概述第11-13页
     ·可测性设计的概念第11-12页
     ·可测性设计的方法第12-13页
   ·调试技术概述第13-14页
   ·片上调试方法分析第14-17页
     ·后台调试模式(BDM)第14-16页
     ·基于JTAG 标准的调试方法第16-17页
   ·课题研究内容与成果第17-18页
   ·本文的组织结构第18-19页
第二章 X-DSP 体系结构概述第19-24页
   ·X-DSP 的总体结构第19-20页
   ·X-DSP 处理器的指令流水线第20-21页
   ·X-DSP 的片内存储资源第21-22页
   ·X-DSP 处理器的调试/测试结构概述第22-23页
     ·总体结构概述第22页
     ·调试/测试部件对调试的支持第22-23页
     ·调试/测试部件对测试的支持第23页
   ·本章小结第23-24页
第三章 X-DSP 调试/测试结构硬件的设计实现第24-43页
   ·X-DSP 边界扫描的设计与实现第24-30页
     ·TAP 控制器的设计第25-26页
     ·指令寄存器(IR)的设计第26-27页
     ·边界扫描单元的设计与优化第27-30页
   ·X-DSP 调试控制逻辑的设计与实现第30-34页
     ·调试控制逻辑的主要构成第30-31页
     ·仿真调试控制寄存器的设计第31页
     ·流水线调试控制单元的设计第31-34页
   ·跨时钟域异步信号传输的的研究与实现第34-42页
     ·异步信号交互的问题分析第34-36页
     ·异步信号传输的同步策略第36-39页
     ·存储访问控制单元的设计实现第39-42页
   ·本章小结第42-43页
第四章 X-DSP 调试/测试结构硬件的设计验证第43-53页
   ·验证的方法与策略第43-45页
     ·验证的方法第43-44页
     ·验证的策略第44-45页
   ·X-DSP 仿真测试部件功能测试码的开发第45-47页
     ·功能测试码开发的原则第45页
     ·系统级验证的功能测试码开发第45-47页
   ·系统调试功能的仿真结果第47-50页
     ·边界扫描结构的仿真验证第47-48页
     ·片上调试结构的仿真验证第48-50页
   ·代码覆盖率分析及设计代价评测第50-52页
     ·测试码的覆盖率分析第50-51页
     ·设计代价的分析与评测第51-52页
   ·本章小结第52-53页
第五章 X-DSP 调试/测试结构的软件设计第53-62页
   ·集成开发环境概述第53-54页
   ·调试驱动程序的实现思想第54-56页
     ·常用串口通信API 函数介绍第54-56页
     ·调试驱动程序实现的基本原理第56页
   ·调试驱动程序的设计实现第56-61页
     ·调试驱动程序的设计划分第56-57页
     ·部分关键函数的设计实现第57-61页
   ·本章小结第61-62页
第六章 结束语第62-64页
   ·本文工作总结第62页
   ·工作展望第62-64页
致谢第64-65页
参考文献第65-67页
作者在学期间取得的学术成果第67页

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