基于FPGA的综合自检验功能测试平台
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 引言 | 第8-9页 |
| 第一章 概述 | 第9-18页 |
| ·验证测试工作的重要性 | 第9-12页 |
| ·需要极强的系统应用经验 | 第10页 |
| ·责任重大却不被重视 | 第10页 |
| ·验证能力没跟上IC发展速度 | 第10-12页 |
| ·验证的模型与内容 | 第12-18页 |
| ·恢复模型 | 第12-18页 |
| 第二章 验证方法的比较 | 第18-41页 |
| ·软件仿真 | 第18-30页 |
| ·软件仿真的工具 | 第20-21页 |
| ·激励与响应 | 第21-26页 |
| ·建立测试平台 | 第26页 |
| ·激励的自动产生和响应的自动监测 | 第26-29页 |
| ·输入输出路径 | 第29-30页 |
| ·形式验证 | 第30-39页 |
| ·组合逻辑电路的形式验证 | 第30页 |
| ·时序逻辑电路的形式验证 | 第30-31页 |
| ·形式验证的HDL方法 | 第31-33页 |
| ·利用等效验证方法进行形式验证 | 第33-37页 |
| ·形式验证的优点 | 第37-39页 |
| ·形式验证方法的不足 | 第39页 |
| ·FPGA验证 | 第39-40页 |
| 本章小结 | 第40-41页 |
| 第三章 验证测试系统的目标 | 第41-51页 |
| ·芯片的简单功能介绍 | 第41-43页 |
| ·验证测试流程分析 | 第43-44页 |
| ·自检验的测试平台 | 第44-45页 |
| ·测试平台必须能自检验 | 第44页 |
| ·定义检查内容 | 第44-45页 |
| ·基于FPGA的黑盒测试 | 第45-50页 |
| ·基于黑盒的FPGA功能测试模型 | 第45-47页 |
| ·验证模块的重用 | 第47-49页 |
| ·测试流程 | 第49-50页 |
| ·本人主要工作 | 第50页 |
| 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 测试平台的组成 | 第51-63页 |
| ·硬件平台的组成 | 第51-56页 |
| ·FPGA验证板的组成 | 第51-52页 |
| ·CPU控制板的组成 | 第52-54页 |
| ·数据采集/回放卡 | 第54页 |
| ·硬件设计中遇到的难点 | 第54-56页 |
| ·硬件平台的共用 | 第56-57页 |
| ·软件平台组成 | 第57-62页 |
| ·验证脚本生成软件 | 第57-58页 |
| ·脚本执行和结果比较软件 | 第58-59页 |
| ·交互式命令控制软件 | 第59-61页 |
| ·数据采集和回放软件 | 第61页 |
| ·数据编辑软件 | 第61-62页 |
| 本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 测试平台的运行和结果 | 第63-77页 |
| ·平台运行情况 | 第63-65页 |
| ·测试操作策略 | 第65-66页 |
| ·动态衰退测试 | 第65-66页 |
| ·传输测试 | 第66页 |
| ·联合测试 | 第66页 |
| ·随机测试 | 第66页 |
| ·脚本生成 | 第66-74页 |
| ·TCL脚本语言语法介绍 | 第66-69页 |
| ·一个脚本例子 | 第69-74页 |
| ·数据的采集/回放 | 第74-75页 |
| ·数据文件产生 | 第75页 |
| ·脚本的自动运行以及排错 | 第75-76页 |
| 本章小结 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 缩略语 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
