基于边界扫描技术的电路板测试方法研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| ·课题的背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·国外研究现状 | 第9-10页 |
| ·国内研究现状 | 第10-11页 |
| ·研究内容与论文安排 | 第11-12页 |
| 第2章 边界扫描测试技术 | 第12-34页 |
| ·边界扫描测试的基本原理 | 第12-13页 |
| ·边界扫描电路 | 第13-23页 |
| ·测试访问端口 | 第13-14页 |
| ·TAP 控制器 | 第14-18页 |
| ·指令寄存器 | 第18-20页 |
| ·测试数据寄存器 | 第20-23页 |
| ·边界扫描指令集 | 第23-25页 |
| ·边界扫描描述语言 | 第25-27页 |
| ·BSDL 结构 | 第25-26页 |
| ·BSDL 文件示例 | 第26-27页 |
| ·板级电路故障类型与数学模型 | 第27-30页 |
| ·故障类型 | 第27-29页 |
| ·数学模型 | 第29-30页 |
| ·边界扫描测试类型与方法 | 第30-33页 |
| ·完备性测试 | 第31页 |
| ·互连测试 | 第31-32页 |
| ·簇测试 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 边界扫描测试系统硬件设计 | 第34-44页 |
| ·引言 | 第34-35页 |
| ·系统总体方案 | 第35-36页 |
| ·并口电路设计 | 第36-40页 |
| ·并口工作原理 | 第36-37页 |
| ·74HC244 简介 | 第37-38页 |
| ·并口电路设计 | 第38-40页 |
| ·并口访问设计 | 第40-43页 |
| ·并口寄存器描述 | 第40页 |
| ·并口访问设计 | 第40-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 测试系统软件设计 | 第44-55页 |
| ·软件总体方案 | 第44页 |
| ·BSDL 文件分析模块设计 | 第44-47页 |
| ·网表文件分析模块设计 | 第47-49页 |
| ·测试矢量生成模块设计 | 第49-52页 |
| ·边界扫描链的生成 | 第49-51页 |
| ·矢量生成算法 | 第51-52页 |
| ·测试矢量生成 | 第52页 |
| ·测试控制模块设计 | 第52-53页 |
| ·故障诊断与结果显示模块设计 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 系统调试 | 第55-62页 |
| ·一般测试过程 | 第55-58页 |
| ·完备性测试过程 | 第58-60页 |
| ·互连测试过程 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第6章 结论与展望 | 第62-64页 |
| ·论文研究工作总结 | 第62-63页 |
| ·今后的研究工作与展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 详细摘要 | 第69-73页 |
