| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-19页 |
| ·本课题的研究背景 | 第9-12页 |
| ·本课题的研究现状 | 第12-16页 |
| ·本课题的研究内容与研究意义 | 第16-17页 |
| ·研究内容 | 第16页 |
| ·研究意义 | 第16-17页 |
| ·本文的结构与安排 | 第17-19页 |
| 第二章 基于IDDT 信息的集成电路测试 | 第19-32页 |
| ·动态电流测试方法原理 | 第19-20页 |
| ·国内外主要动态电流测试分析方法 | 第20-24页 |
| ·基于时域的检测方法 | 第20-21页 |
| ·基于信号处理的检测方法 | 第21-22页 |
| ·瞬态信号分析法（TSA, Transient Signal Analysis） | 第22-23页 |
| ·各类方法优缺点比较 | 第23-24页 |
| ·IDDT 测试生成研究现状 | 第24-28页 |
| ·基于布尔过程论的测试生成方法 | 第24-25页 |
| ·基于BIST 思想的测试向量生成器 | 第25-26页 |
| ·基于混沌搜索的IDDT 测试向量产生算法 | 第26页 |
| ·基于蚂蚁路径的IDDT 测试生成 | 第26-27页 |
| ·贝叶斯优化算法 | 第27-28页 |
| ·静态电流测试方法与动态电流测试方法比较 | 第28-31页 |
| ·本章小节 | 第31-32页 |
| 第三章 基于有向图的IDDT 测试矢量与IDDT 通路生成 | 第32-52页 |
| ·单元化结构测试方法 | 第32-37页 |
| ·基于标准单元的VLSI 设计方法学 | 第32-34页 |
| ·结构化测试思想 | 第34-35页 |
| ·基于单元的IDDT 测试矢量与路径生成 | 第35-37页 |
| ·标准单元IDDT 测试矢量与通路生成算法 | 第37-44页 |
| ·动态电流产生机理 | 第37-39页 |
| ·IDDT 产生过程的数学建模 | 第39-40页 |
| ·IDDT 测试矢量与路径生成算法 | 第40-44页 |
| ·算法仿真与验证 | 第44-48页 |
| ·算法对故障定位的作用 | 第48-51页 |
| ·管级定位 | 第49-50页 |
| ·通路级定位 | 第50页 |
| ·故障定位验证 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第四章 基于IDDT 信息的故障诊断 | 第52-70页 |
| ·故障建模 | 第52-54页 |
| ·基于相关分析法的IDDT 信息故障诊断算法 | 第54-59页 |
| ·基于相关分析法的IDDT 测试原理 | 第55-59页 |
| ·故障诊断算法的仿真验证 | 第59-68页 |
| ·桥接故障 | 第59-64页 |
| ·阻性开路故障 | 第64-68页 |
| ·本章小结 | 第68-70页 |
| 第五章 基于基准电路的算法验证与分析 | 第70-84页 |
| ·基准测试电路测试矢量建模与IDDT 路径生成 | 第70-75页 |
| ·C17 电路结构及其有向图模型 | 第70-71页 |
| ·C17 电路动态电流测试矢量与IDDT 通路生成 | 第71-75页 |
| ·C17 电路故障仿真诊断 | 第75-83页 |
| ·桥接故障 | 第75-80页 |
| ·阻性开路故障 | 第80-83页 |
| ·本章小节 | 第83-84页 |
| 第六章 结论与展望 | 第84-87页 |
| ·本文工作总结 | 第84-85页 |
| ·展望 | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-93页 |
| 附录 | 第93-99页 |
| 作者攻硕期间取得的研究成果 | 第99-100页 |
