基于扫描结构的低功耗测试方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题研究背景 | 第10-11页 |
| ·扫描测试技术概述 | 第11-12页 |
| ·低功耗测试技术的研究意义 | 第12-13页 |
| ·国内外的研究现状 | 第13-15页 |
| ·本文的组织结构 | 第15-17页 |
| 第2章 全扫描测试技术及测试功耗分类 | 第17-33页 |
| ·IC 测试的相关概念 | 第17-23页 |
| ·IC 测试的可控制性和可观察性 | 第17-18页 |
| ·IC 测试类型 | 第18-20页 |
| ·扫描测试单元类型分析 | 第20-23页 |
| ·扫描测试过程分析 | 第23-26页 |
| ·扫描测试结构分析 | 第23-25页 |
| ·扫描测试步骤分析 | 第25-26页 |
| ·扫面测试功耗分类 | 第26-32页 |
| ·动态功耗和静态功耗 | 第26-31页 |
| ·有用功耗和无用功耗 | 第31页 |
| ·测试功耗的分类 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 常值法优化动态功耗的研究 | 第33-59页 |
| ·扫描测试中的动态功耗分析 | 第33-36页 |
| ·CMOS 反相器的功耗产生原理 | 第33-35页 |
| ·翻转功耗模型 | 第35-36页 |
| ·常值法优化的扫描测试流程分析与设计 | 第36-46页 |
| ·可测试性设计中规则检查 | 第36-37页 |
| ·三态总线和双向端口测试 | 第37-42页 |
| ·常值法实验流程设计 | 第42-45页 |
| ·扫描测试全流程图 | 第45-46页 |
| ·功耗比例分析 | 第46-48页 |
| ·动态功耗优化设计——常值法 | 第48-53页 |
| ·低功耗测试触发器的设计 | 第48-50页 |
| ·插入独立逻辑门的优化方法 | 第50-51页 |
| ·常值法优化静态功耗的研究 | 第51-53页 |
| ·实验结果分析 | 第53-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第4章 电压法优化动态功耗的研究 | 第59-68页 |
| ·电压法原理分析 | 第59-62页 |
| ·门控晶体管的引入 | 第59-61页 |
| ·全局电压法 | 第61-62页 |
| ·控制输出端浮空的优化方法 | 第62-64页 |
| ·动态功耗优化设计——电压法 | 第64-66页 |
| ·实验结果分析和比较 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第5章 扫描测试中静态功耗优化方法研究 | 第68-87页 |
| ·扫描测试中的静态功耗分析 | 第68-70页 |
| ·门控功耗原理分析 | 第70-76页 |
| ·门控功耗的基本原理 | 第71页 |
| ·门控功耗的定量分析 | 第71-74页 |
| ·门控功耗的使用 | 第74-76页 |
| ·实验流程设计 | 第76-78页 |
| ·扫描测试静态功耗优化方法 | 第78-82页 |
| ·扫描触发器分离独立性布局方法研究 | 第78-80页 |
| ·新型门控功耗电源地网络设计 | 第80-82页 |
| ·实验结果分析 | 第82-86页 |
| ·本章小结 | 第86-87页 |
| 结论 | 第87-90页 |
| 参考文献 | 第90-94页 |
| 致谢 | 第94-95页 |
| 附录 A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第95页 |
