摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-6页 |
引言 | 第6-8页 |
第一章 传统SBL的介绍 | 第8-14页 |
第一节 封装测试的挑战 | 第8-9页 |
第二节 传统SBL的介绍 | 第9-12页 |
第三节 传统SBL的作用 | 第12-14页 |
第二章 SBL的改进要求 | 第14-18页 |
第一节 传统SBL的新问题 | 第14-15页 |
第二节 分析问题产生的原因 | 第15-17页 |
第三节 SBL的改进计划 | 第17-18页 |
第三章 SBL的具体改进 | 第18-30页 |
第一节 SBL的算法的分析和调整 | 第18-24页 |
第二节 特殊失效分类的SBL设置 | 第24-26页 |
第三节 SBL设置的自动化 | 第26-27页 |
第四节 潜在问题批次探测能力的提高 | 第27-30页 |
第四章 改进SBL的总结 | 第30-33页 |
第一节 改进SBL的总结 | 第30页 |
第二节 改进SBL的效果 | 第30-32页 |
第三节 SBL的未来 | 第32-33页 |
参考文献 | 第33-35页 |
致谢 | 第35-36页 |