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测试和检验
10.3125Gbps高速SERDES芯片的测试方法研究
NS1066量产测试系统的设计和开发
集成电路老化在线预测与检测技术的研究
集成电路工艺偏差的片上检测与应用
宽带通讯测试板自动测试系统关键技术研究
集成电路电光测试仪相关技术研究
基于UVM的射频基带电路验证平台的设计与实现
集成电路失效分析中缺陷快速精确定位技术及实验研究
集成电路板焊点缺陷的机器视觉检测方法
SerDes电路的可测性集成设计与机台测试
瞬态脉冲干扰下微处理器I/O保护电路改进方法研究
基于扫描测试的数据压缩与低功耗测试研究与实现
基于FPGA的集成电路老化测试系统设计
基于J750的DisplayPort接收芯片的测试系统设计及实现
基于PCI协议的内部仲裁器的验证
基于SVA功能验证方法的中断延迟控制器和GPIO的验证研究
基于随机化聚类算法的扫描时钟分组方法
基于SVA的Boot启动功能验证研究
基于March算法的SRAM内建自测试设计与验证
偏振性能测试方法研究
智能手机基带芯片的可靠性测试与失效分析
复杂DSP芯片γ射线瞬时辐照效应测试系统的设计与实现
三维芯片中TSV短路和开路测试电路的设计与实现
IP核低功耗测试研究与实现
基于CCM3108的可测性设计研究
基于宽带接入网络芯片测试的多功能系统设计
VLSI自动测试向量生成技术研究
集成电路晶圆批量测试系统的设计与实现
0.18微米逻辑生产流程与工艺控制监控
集成电路射频控制系统研究
集成电路测试的温度准确及稳定性控制研究
基于MCZ33937EK电路测试与可靠性关键技术研究
基于机器视觉的电路板检测系统与方法的研究
贴片类芯片缺陷检测识别的研究
基于嵌入式Linux的集成电路老化测试设备软件系统的设计及实现
基于UVM的Preamp芯片的验证与分析
基于PCI协议的芯片接口功能验证
基于JTAG标准的边界扫描测试技术的分析与研究
基于JTAG的芯片互连测试技术的研究与实现
多功能电路板检测系统研究
集成电路测试生成算法与可测性设计的研究
射频IC量产化测试系统及其校正系统开发与实现
基于LabVIEW的芯片自动测试系统设计
基于FPGA的便携式RLC参数测量仪设计
片上网络测试关键问题研究
集成电路老化预测与容忍
数字集成电路老化故障和软错误的在线检测技术研究
三维芯片绑定后过硅通孔测试技术研究
面向NoC多核并行测试的数据处理技术研究
数字集成电路时序故障的在线检测技术研究
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