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基于UVM的射频基带电路验证平台的设计与实现

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第9-25页
    1.1 研究背景与意义第9-11页
    1.2 本课题的研究进展第11-23页
        1.2.1 业界常用验证技术研究现状第11-14页
        1.2.2 现阶段常用验证技术比较第14-15页
        1.2.3 现阶段仿真验证技术研究现状第15-21页
        1.2.4 历代验证方法学对比分析第21-23页
    1.3 本文主要研究内容第23-25页
第二章 验证平台需求分析第25-39页
    2.1 待测设计MH1801芯片分析第25-29页
        2.1.1 芯片架构和功能分析第25-26页
        2.1.2 芯片接口分析第26-29页
        2.1.3 芯片调制模式和传送速率第29页
    2.2 验证平台功能性需求第29-36页
        2.2.1 接口驱动的设计第29-30页
        2.2.2 中断服务程序的设计第30-31页
        2.2.3 带有随机的包生成机制第31页
        2.2.4 自动对比和断言第31-32页
        2.2.5 功能覆盖率收集第32页
        2.2.6 验证用例的分解和用例规约第32-36页
    2.3 验证平台非功能性需求第36-37页
        2.3.1 可重用性和可扩展性第36-37页
    2.4 验证系统开发工具和语言第37-38页
    2.5 本章小结第38-39页
第三章 基于UVM的通用验证系统实现第39-49页
    3.1 验证平台第39-41页
        3.1.1 接口实现第39-40页
        3.1.2 虚拟接口实现第40-41页
    3.2 基于UVM的验证平台第41-47页
        3.2.1 UVM树派生关系第41-42页
        3.2.2 UVM验证组件实现第42-44页
        3.2.3 UVM运行机制实现第44-45页
        3.2.4 UVM其他组件的实现第45-47页
    3.3 本章小结第47-49页
第四章 该验证系统在射频基带电路的应用第49-65页
    4.1 验证计划和验证流程第49-51页
    4.2 各个定制组件详细设计第51-61页
        4.2.1 driver组件设计第51-53页
        4.2.2 monitor组件设计第53-54页
        4.2.3 agents和equencer和组件设计第54-55页
        4.2.4 socreboard组件设计第55-56页
        4.2.5 transaction组件设计第56-57页
        4.2.6 test和sequence组件设计第57-61页
    4.3 其他模块设计第61-63页
        4.3.1 断言设计第61-62页
        4.3.2 功能覆盖率统计模块设计第62-63页
    4.4 本章小结第63-65页
第五章 验证平台仿真流程和结果第65-71页
    5.1 验证平台目录结构和仿真流程第65-66页
    5.2 仿真结果第66-70页
        5.2.1 部分功能截图第66-67页
        5.2.2 代码覆盖率第67-68页
        5.2.3 功能覆盖率第68-70页
    5.3 本章小结第70-71页
第六章 结论与展望第71-73页
    6.1 论文总结第71页
    6.2 未来工作展望第71-73页
参考文献第73-75页
致谢第75-77页
个人简历、在学期间发表的论文与研究成果第77页

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