摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 绪论 | 第9-25页 |
1.1 研究背景与意义 | 第9-11页 |
1.2 本课题的研究进展 | 第11-23页 |
1.2.1 业界常用验证技术研究现状 | 第11-14页 |
1.2.2 现阶段常用验证技术比较 | 第14-15页 |
1.2.3 现阶段仿真验证技术研究现状 | 第15-21页 |
1.2.4 历代验证方法学对比分析 | 第21-23页 |
1.3 本文主要研究内容 | 第23-25页 |
第二章 验证平台需求分析 | 第25-39页 |
2.1 待测设计MH1801芯片分析 | 第25-29页 |
2.1.1 芯片架构和功能分析 | 第25-26页 |
2.1.2 芯片接口分析 | 第26-29页 |
2.1.3 芯片调制模式和传送速率 | 第29页 |
2.2 验证平台功能性需求 | 第29-36页 |
2.2.1 接口驱动的设计 | 第29-30页 |
2.2.2 中断服务程序的设计 | 第30-31页 |
2.2.3 带有随机的包生成机制 | 第31页 |
2.2.4 自动对比和断言 | 第31-32页 |
2.2.5 功能覆盖率收集 | 第32页 |
2.2.6 验证用例的分解和用例规约 | 第32-36页 |
2.3 验证平台非功能性需求 | 第36-37页 |
2.3.1 可重用性和可扩展性 | 第36-37页 |
2.4 验证系统开发工具和语言 | 第37-38页 |
2.5 本章小结 | 第38-39页 |
第三章 基于UVM的通用验证系统实现 | 第39-49页 |
3.1 验证平台 | 第39-41页 |
3.1.1 接口实现 | 第39-40页 |
3.1.2 虚拟接口实现 | 第40-41页 |
3.2 基于UVM的验证平台 | 第41-47页 |
3.2.1 UVM树派生关系 | 第41-42页 |
3.2.2 UVM验证组件实现 | 第42-44页 |
3.2.3 UVM运行机制实现 | 第44-45页 |
3.2.4 UVM其他组件的实现 | 第45-47页 |
3.3 本章小结 | 第47-49页 |
第四章 该验证系统在射频基带电路的应用 | 第49-65页 |
4.1 验证计划和验证流程 | 第49-51页 |
4.2 各个定制组件详细设计 | 第51-61页 |
4.2.1 driver组件设计 | 第51-53页 |
4.2.2 monitor组件设计 | 第53-54页 |
4.2.3 agents和equencer和组件设计 | 第54-55页 |
4.2.4 socreboard组件设计 | 第55-56页 |
4.2.5 transaction组件设计 | 第56-57页 |
4.2.6 test和sequence组件设计 | 第57-61页 |
4.3 其他模块设计 | 第61-63页 |
4.3.1 断言设计 | 第61-62页 |
4.3.2 功能覆盖率统计模块设计 | 第62-63页 |
4.4 本章小结 | 第63-65页 |
第五章 验证平台仿真流程和结果 | 第65-71页 |
5.1 验证平台目录结构和仿真流程 | 第65-66页 |
5.2 仿真结果 | 第66-70页 |
5.2.1 部分功能截图 | 第66-67页 |
5.2.2 代码覆盖率 | 第67-68页 |
5.2.3 功能覆盖率 | 第68-70页 |
5.3 本章小结 | 第70-71页 |
第六章 结论与展望 | 第71-73页 |
6.1 论文总结 | 第71页 |
6.2 未来工作展望 | 第71-73页 |
参考文献 | 第73-75页 |
致谢 | 第75-77页 |
个人简历、在学期间发表的论文与研究成果 | 第77页 |