| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 缩略词表 | 第8-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-13页 |
| ·研究背景 | 第9-11页 |
| ·课题来源及研究目的 | 第11页 |
| ·本论文的主要工作及内容安排 | 第11-13页 |
| 第二章 CCM3108组合逻辑的可测性设计 | 第13-20页 |
| ·固定故障模型 | 第13页 |
| ·组合逻辑的测试 | 第13-19页 |
| ·D算法基础 | 第14-16页 |
| ·D算法的实现流程 | 第16-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 CCM3108时序逻辑的可测性设计 | 第20-41页 |
| ·扫描结构与测试原理 | 第20页 |
| ·CCM3108扫描链结构设计 | 第20-22页 |
| ·提高故障覆盖率设计 | 第22-39页 |
| ·双向pad问题 | 第22-23页 |
| ·寄存器时钟边沿问题 | 第23-25页 |
| ·内部产生脉冲信号问题 | 第25-26页 |
| ·latch问题 | 第26-27页 |
| ·门控时钟问题 | 第27-33页 |
| ·黑盒子阴影逻辑问题 | 第33-36页 |
| ·异步时钟域问题 | 第36-39页 |
| ·扫描结构设计结果报告与向量仿真 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 存储器内建自测试结构设计 | 第41-57页 |
| ·存储器测试的必要性 | 第41页 |
| ·存储器故障模型 | 第41-43页 |
| ·存储器故障测试方法 | 第43-44页 |
| ·MBIST算法设计 | 第44-49页 |
| ·MarchC算法 | 第45-46页 |
| ·MarchC-(March1)算法 | 第46页 |
| ·MarchC+(March2)算法 | 第46-47页 |
| ·改进MarchC+算法 | 第47-48页 |
| ·各类March算法总结 | 第48-49页 |
| ·MBIST硬件实现 | 第49-52页 |
| ·BIST控制器与向量产生器 | 第50-52页 |
| ·比较器 | 第52页 |
| ·RAM MBIST结构的仿真验证 | 第52-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 At-Speed扫描与Boundary-Scan设计 | 第57-70页 |
| ·全速扫描结构设计 | 第57-64页 |
| ·跳变延时故障模型 | 第57-58页 |
| ·全速扫描原理 | 第58页 |
| ·硬件结构设计 | 第58-61页 |
| ·全速扫描ATPG流程与向量仿真 | 第61-64页 |
| ·边界扫描结构设计 | 第64-69页 |
| ·Boundary-Scan原理 | 第64页 |
| ·BSD设计流程 | 第64-66页 |
| ·硬件结构与仿真波形 | 第66-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第六章 DBIST与Adaptive-Scan设计 | 第70-87页 |
| ·DBIST结构设计 | 第70-75页 |
| ·DBIST测试原理 | 第71页 |
| ·DBIST系统实现 | 第71-72页 |
| ·DBIST仿真分析及测试结果 | 第72-75页 |
| ·Adaptive-Scan结构设计 | 第75-86页 |
| ·Adaptive-Scan原理 | 第75-76页 |
| ·CCM3108自适应扫描系统实现 | 第76-86页 |
| ·本章小结 | 第86-87页 |
| 结论 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第92页 |