数字集成电路老化故障和软错误的在线检测技术研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 致谢 | 第9-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-23页 |
| ·研究的背景及意义 | 第15-16页 |
| ·研究的对象 | 第16-17页 |
| ·国内外研究现状 | 第17-20页 |
| ·老化问题的研究现状 | 第17-19页 |
| ·软错误的研究现状 | 第19-20页 |
| ·课题来源 | 第20页 |
| ·研究内容及创新点 | 第20-21页 |
| ·论文组织结构 | 第21-23页 |
| 第二章 故障的基本知识及仿真工具 | 第23-36页 |
| ·老化背景知识介绍 | 第23-27页 |
| ·NBTI 效应 | 第23-24页 |
| ·NBTI 效应对电路的影响 | 第24-25页 |
| ·老化预测的基本原理 | 第25-27页 |
| ·软错误背景知识介绍 | 第27-29页 |
| ·软错误的形成 | 第27-28页 |
| ·软错误的三种屏蔽效应 | 第28-29页 |
| ·软错误率的评估及衡量指标 | 第29页 |
| ·经典的故障在线检测结构 SVFD | 第29-31页 |
| ·HSPICE 模拟器 | 第31-34页 |
| ·HSPICE 概述 | 第31-33页 |
| ·HSPICE 的语句和格式 | 第33-34页 |
| ·DESIGN COMPILER 简介 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 可配置的老化预测传感器 CIAS 的设计 | 第36-46页 |
| ·ARSC 之回顾 | 第36-37页 |
| ·CIAS 预测电路设计 | 第37-41页 |
| ·延迟单元设计 | 第37-38页 |
| ·抗老化性能分析 | 第38-39页 |
| ·可配置性分析 | 第39页 |
| ·工作原理图及 Tg 的产生 | 第39-40页 |
| ·稳定性校验器电路的设计 | 第40-41页 |
| ·实验分析 | 第41-45页 |
| ·老化率对比分析 | 第41-42页 |
| ·面积开销分析 | 第42-43页 |
| ·保护带适应性分析 | 第43-44页 |
| ·功耗开销分析 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 容忍老化的低功耗多故障检测结构设计 | 第46-54页 |
| ·MFSC 检测原理 | 第46-47页 |
| ·监测区间确定 | 第46-47页 |
| ·预测与检测的区别 | 第47页 |
| ·MFSC 结构设计 | 第47-51页 |
| ·MFSC 结构与功能 | 第47-49页 |
| ·故障区分方法 | 第49-50页 |
| ·检测器的嵌入机制 | 第50-51页 |
| ·实验分析 | 第51-53页 |
| ·检测能力与适应性分析 | 第51页 |
| ·功耗开销分析 | 第51-53页 |
| ·面积及性能开销分析 | 第53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 结束语 | 第54-56页 |
| ·全文总结 | 第54页 |
| ·进一步工作 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-61页 |
| 附录 | 第61-62页 |
