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测试和检验
边界扫描测试结果可视化方法研究
系统芯片BIST测试生成及其应用技术研究
IC辐射发射测试的TEM小室设计及数值分析
可编程逻辑器件测试系统
SD卡与CF卡性能测试平台的研究与设计
YHFT-DX高性能DSP芯片的功能验证
面向固定型故障的测试向量生成与压缩方法研究
数字电路在线故障检测方法研究
某型设备高频线路板模块测试设备设计与实现
一种高速大容量异步FIFO存储器的设计
电子信息克隆分析技术及电子装备网络医院-EENH的研究
基于System Verilog对TDM模块的验证
基于VMM的SWP模块级验证平台的研究
集成电路可测性设计的研究与实践
基于FPGA的高精度DAC测试方法研究与实现
开放验证方法学的应用研究
L6562A性能参数自动测试系统设计
基于参数测量单元的芯片自动测试系统设计
高速图像压缩芯片高速自动化测试技术研究
芯片测试平台中的FPGA时序分析及芯片接口测试方法研究
基于UNH-IOL的以太网MAC接口协议性测试的研究与实现
基于JTAG接口电路故障诊断系统的上位机软件设计
航空总线协议芯片功能覆盖测试技术研究与实现
面向模拟IC测试的高精度数字化仪的设计与实现
IC测试系统中时间参数和直流参数测量单元的设计
混合集成电路测试板FPGA逻辑设计
集成电路低功耗可测性设计技术的分析与实现
混合集成电路测试系统上位机软件设计
基于PON结构的FC协议芯片验证技术研究
RCWA方法及其在集成电路检测中的运用
组合式的TopMetal测试平台设计
基于ARM的OTP芯片烧写测试设备的设计与实现
基于SECS的半导体自动控制系统设计与实现
产能约束下半导体芯片测试生产线调度优化研究
基于0.18um技术的晶格位错造成的芯片失效分析与解决方案
NAND闪存卡低成本测试方案开发和实现
基于ATPG技术的误判消除方法
基于VIIS-EM平台的虚拟数字集成电路测试仪的研制
基于人工免疫技术的模拟电路故障诊断技术
测试向量的周期化算法研究
芯片S参数的提取
印刷线路板焊盘和金手指自动光学检测研究
全扫描电路高性能低功耗测试方法研究
密码芯片安全扫描结构与安全扫描方法
数字系统时延故障的低成本高质量测试方法研究
集成电路自动测试设备接口板网表生成方法研究
用于8051单片机片上调试系统的硬件设计
相变存储器测试芯片测试技术研究
基于影子云纹法的封装基板翘曲测量系统研究
数字IC中硬件木马的特性与检测技术研究
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