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基于LabVIEW的芯片自动测试系统设计

摘要第1-6页
Abstract第6-10页
第一章 绪论第10-16页
   ·课题的研究背景第10-11页
   ·国内外研究现状第11-12页
   ·虚拟仪器概述第12-14页
   ·论文主要工作第14-15页
 参考文献第15-16页
第二章 芯片测试平台的总体设计第16-23页
   ·需求分析第16-19页
     ·芯片的功能分析第16-17页
     ·测试仪器简介第17-19页
   ·测试平台程序框架和硬件框架第19-22页
     ·程序框架第19-21页
     ·硬件框架第21-22页
 参考文献第22-23页
第三章 硬件电路板设计第23-35页
   ·硬件设计的基本思想第23页
   ·通用板的设计第23-30页
     ·模拟电池电路设计第23-25页
     ·MCU和CPLD电路设计第25-26页
     ·电路板电源设计第26-27页
     ·三极管驱动设计第27-28页
     ·RS485通讯设计第28-30页
   ·专用板的设计第30-31页
   ·测试电路板制作结果第31-34页
 参考文献第34-35页
第四章 LABVIEW软件程序设计第35-57页
   ·动态链接库与通信协议第35-38页
     ·动态链接库(DLL)第35页
     ·单片机通讯协议第35-38页
   ·程序设计第38-54页
     ·总体架构第38-39页
     ·测试判断与三态灯的设计第39-40页
     ·极快信号的测试第40-44页
     ·数字滤波——数据采集卡的软件优化第44-47页
     ·用最小二乘法校正模拟电源第47-54页
   ·测试数据的输出第54-55页
 参考文献第55-57页
第五章 芯片测试平台的测试第57-63页
   ·测试平台使用方法简介第57-60页
   ·芯片测试平台的输出结果第60-62页
 参考文献第62-63页
结论第63-65页
附录1 模拟电池部分电路图第65-66页
附录2 MCU和CPLD的电路图第66-67页
附录3 OZ8955测试专用板电路图第67-68页
作者在攻读硕士期间的主要研究成果第68-69页
致谢第69页

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