基于LabVIEW的芯片自动测试系统设计
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
·课题的研究背景 | 第10-11页 |
·国内外研究现状 | 第11-12页 |
·虚拟仪器概述 | 第12-14页 |
·论文主要工作 | 第14-15页 |
参考文献 | 第15-16页 |
第二章 芯片测试平台的总体设计 | 第16-23页 |
·需求分析 | 第16-19页 |
·芯片的功能分析 | 第16-17页 |
·测试仪器简介 | 第17-19页 |
·测试平台程序框架和硬件框架 | 第19-22页 |
·程序框架 | 第19-21页 |
·硬件框架 | 第21-22页 |
参考文献 | 第22-23页 |
第三章 硬件电路板设计 | 第23-35页 |
·硬件设计的基本思想 | 第23页 |
·通用板的设计 | 第23-30页 |
·模拟电池电路设计 | 第23-25页 |
·MCU和CPLD电路设计 | 第25-26页 |
·电路板电源设计 | 第26-27页 |
·三极管驱动设计 | 第27-28页 |
·RS485通讯设计 | 第28-30页 |
·专用板的设计 | 第30-31页 |
·测试电路板制作结果 | 第31-34页 |
参考文献 | 第34-35页 |
第四章 LABVIEW软件程序设计 | 第35-57页 |
·动态链接库与通信协议 | 第35-38页 |
·动态链接库(DLL) | 第35页 |
·单片机通讯协议 | 第35-38页 |
·程序设计 | 第38-54页 |
·总体架构 | 第38-39页 |
·测试判断与三态灯的设计 | 第39-40页 |
·极快信号的测试 | 第40-44页 |
·数字滤波——数据采集卡的软件优化 | 第44-47页 |
·用最小二乘法校正模拟电源 | 第47-54页 |
·测试数据的输出 | 第54-55页 |
参考文献 | 第55-57页 |
第五章 芯片测试平台的测试 | 第57-63页 |
·测试平台使用方法简介 | 第57-60页 |
·芯片测试平台的输出结果 | 第60-62页 |
参考文献 | 第62-63页 |
结论 | 第63-65页 |
附录1 模拟电池部分电路图 | 第65-66页 |
附录2 MCU和CPLD的电路图 | 第66-67页 |
附录3 OZ8955测试专用板电路图 | 第67-68页 |
作者在攻读硕士期间的主要研究成果 | 第68-69页 |
致谢 | 第69页 |