基于J750的DisplayPort接收芯片的测试系统设计及实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| ·研究的背景与意义 | 第10-11页 |
| ·DisplayPort量产测试的研究进展 | 第11-16页 |
| ·量产测试的发展现状 | 第11-13页 |
| ·DisplayPort测试面临的挑战 | 第13-14页 |
| ·当前主要的研究方案 | 第14-16页 |
| ·本文主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第二章 测试系统的整体设计思路 | 第18-32页 |
| ·集成电路芯片量产测试原理 | 第18-21页 |
| ·直流参数测试(DC Test)原理 | 第18-19页 |
| ·功能测试(Functional Test)原理 | 第19-21页 |
| ·量产测试的硬件跟软件 | 第21页 |
| ·DisplayPort接收芯片的测试要求 | 第21-23页 |
| ·测试系统整体设计的确定 | 第23-31页 |
| ·测试经济性的考虑 | 第23-26页 |
| ·测试系统的构建 | 第26-28页 |
| ·测试机台的选取 | 第28-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第三章 系统硬件的设计与实现 | 第32-44页 |
| ·承载板的设计 | 第32-35页 |
| ·针对J750测试机的设计 | 第32-33页 |
| ·SLT系统的搭建 | 第33-35页 |
| ·原理图的产生 | 第35页 |
| ·承载板的实现 | 第35-42页 |
| ·DisplayPort的信号形式 | 第36-37页 |
| ·针对DisplayPot信号的布局布线 | 第37-38页 |
| ·承载板的最终实现 | 第38-42页 |
| ·小结 | 第42-44页 |
| 第四章 系统软件的设计与实现 | 第44-58页 |
| ·Teradyne IG-XL简介 | 第44-45页 |
| ·测试向量的生成 | 第45-52页 |
| ·I~2C协议简介 | 第45-46页 |
| ·测试方案相关的I~2C编码 | 第46-50页 |
| ·I~2C编码到测试向量的转换 | 第50-52页 |
| ·测试程序的实现 | 第52-57页 |
| ·测试通道的定义 | 第53-54页 |
| ·直流参数测试模块的编写 | 第54-55页 |
| ·Function测试模块的编写 | 第55-56页 |
| ·Test_Flow的生成 | 第56-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第五章 测试系统的实施与验证 | 第58-66页 |
| ·系统实施 | 第58-60页 |
| ·测试数据的查看 | 第58-59页 |
| ·测试时间的查看 | 第59-60页 |
| ·验证实验 | 第60-64页 |
| ·验证实验的准备 | 第61-62页 |
| ·验证实验的流程及标准 | 第62页 |
| ·验证实验的结果 | 第62-64页 |
| ·小结 | 第64-66页 |
| 第六章 结论与展望 | 第66-68页 |
| ·论文总结 | 第66-67页 |
| ·应用展望 | 第67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 个人简历、在学期间发表的论文与研究成果 | 第72页 |
