| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·引言 | 第7-10页 |
| ·课题背景与意义 | 第10-12页 |
| ·本课题任务 | 第12-13页 |
| 第二章 集成电路测试原理及设备简介 | 第13-26页 |
| ·半导体测试机 (Tester)简介 | 第14-22页 |
| ·测试板（Load Board）简介 | 第22-24页 |
| ·半导体测试分选机 (Handler)简介 | 第24-26页 |
| 第三章 MCZ33937EK 芯片测试优化方案 | 第26-54页 |
| ·MCZ33937EK 汽车电子助力转向控制器芯片介绍 | 第26-39页 |
| ·MCZ33937EK 测试程序分析 | 第39-42页 |
| ·Leakage 测试程序改进与优化方案 | 第42-46页 |
| ·Leakage 测试原理与方法 | 第42-44页 |
| ·Leakage 测试程序优化方案 | 第44-46页 |
| ·Stress 测试原理分析及程序优化 | 第46-54页 |
| ·Cycling Stress 测试优化方案 | 第47-49页 |
| ·Trickle Charge Pump 测试优化方案 | 第49-51页 |
| ·BOOT RAMP 测试优化方案 | 第51-54页 |
| 第四章 测试程序的改进与优化 | 第54-74页 |
| ·Leakage 测试程序优化 | 第54-57页 |
| ·Stress 测试程序改进 | 第57-65页 |
| ·Cycling stress 测试程序优化 | 第57-58页 |
| ·ChargePump 测试程序优化 | 第58-62页 |
| ·BOOT RAMP 测试程序优化 | 第62-65页 |
| ·程序优化效果 | 第65-66页 |
| ·程序流程优化 | 第66-74页 |
| 第五章 总结 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77页 |