基于PCI协议的芯片接口功能验证
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第7-8页 |
| ·验证技术概况 | 第8-10页 |
| ·验证技术 | 第8-9页 |
| ·验证面临的挑战 | 第9-10页 |
| ·课题来源与论文章节安排 | 第10-11页 |
| 第二章 验证方法学及验证原理 | 第11-21页 |
| ·验证技术介绍 | 第11-13页 |
| ·定向功能测试 | 第12-13页 |
| ·验证计划 | 第13-15页 |
| ·验证的流程 | 第13-14页 |
| ·验证的目标 | 第14-15页 |
| ·验证层次 | 第15页 |
| ·X 芯片的功能验证策略 | 第15-19页 |
| ·功能点的提取 | 第15-17页 |
| ·搭建验证平台 | 第17页 |
| ·基本任务和测试向量 | 第17-19页 |
| ·本章小结 | 第19-21页 |
| 第三章 X 芯片介绍与结构分析 | 第21-35页 |
| ·芯片应用及特性 | 第21-23页 |
| ·芯片应用环境 | 第21-22页 |
| ·芯片特性 | 第22-23页 |
| ·芯片外部接口 | 第23-27页 |
| ·管脚信号说明 | 第24-26页 |
| ·PCI 接口设计 | 第26-27页 |
| ·总线命令和事务传输方式 | 第27-30页 |
| ·总线命令 | 第27-29页 |
| ·数据传输方式 | 第29-30页 |
| ·芯片基本架构图 | 第30-33页 |
| ·控制电路的功能 | 第31页 |
| ·仲裁电路 | 第31-32页 |
| ·配置空间 | 第32-33页 |
| ·芯片数据通路的内部结构 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 仿真与验证 | 第35-57页 |
| ·一级 Master 传输 | 第35-41页 |
| ·一级 Master 写操作 | 第36-39页 |
| ·一级 Master 读操作 | 第39-41页 |
| ·二级 Master 传输 | 第41-44页 |
| ·二级 Master 写操作 | 第41-43页 |
| ·二级 Master 读操作 | 第43-44页 |
| ·地址和数据奇偶校验错误 | 第44-48页 |
| ·地址奇偶校验位错误验证 | 第45-46页 |
| ·数据奇偶校验 | 第46-48页 |
| ·预取读操作 | 第48-52页 |
| ·测试原理 | 第48-49页 |
| ·测试步骤及结果分析 | 第49-52页 |
| ·配置周期和特殊周期 | 第52-56页 |
| ·配置周期和特殊周期的测试原理 | 第52-54页 |
| ·测试步骤以及验证结果分析 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
