集成电路电光测试仪相关技术研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第11-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 本章小结 | 第15-16页 |
| 第二章 电光采样机制的原理及电路信号的集中处理 | 第16-23页 |
| 2.1 电光采样技术简介 | 第16-20页 |
| 2.2 电路信号的集中处理 | 第20-21页 |
| 2.3 论文探究的主要形式 | 第21-22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 光电二极管原理及前置放大器 | 第23-28页 |
| 3.1 光电二极管原理和特性 | 第23-25页 |
| 3.1.1 光电二极管线性关系研究 | 第23页 |
| 3.1.2 光电二极管电流影响因素 | 第23-24页 |
| 3.1.3 光电二极管的滤波装置 | 第24-25页 |
| 3.1.4 光电探测器的配置需求 | 第25页 |
| 3.2 光电二极管前置放大器性能测试 | 第25-27页 |
| 3.2.1 前置放大器的信号优化 | 第26-27页 |
| 3.2.2 前置放大器的性能探究 | 第27页 |
| 3.3 本章小结 | 第27-28页 |
| 第四章 可变中心频率滤波器设计 | 第28-36页 |
| 4.1 程控滤波器与智能滤波器的设计方法 | 第29-31页 |
| 4.2 自动跟踪智能滤波器 | 第31-32页 |
| 4.3 波段滤波处理工作探究 | 第32-35页 |
| 4.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第五章 探究信号测量系统的线路组成 | 第36-43页 |
| 5.1 自动测试系统平台的搭建 | 第38-41页 |
| 5.2 探究结果 | 第41-42页 |
| 5.3 本章小结 | 第42-43页 |
| 第六章 总结 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-47页 |
| 作者简介 | 第47-48页 |
| 致谢 | 第48页 |
