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IP核低功耗测试研究与实现

摘要第1-10页
ABSTRACT第10-11页
第一章 引言第11-17页
   ·研究背景和意义第11-12页
   ·IP核可测试设计研究现状第12-16页
     ·IP核定义第12-13页
     ·IP核可测性设计第13-14页
     ·IP核测试面临的挑战第14-16页
   ·本文章节安排第16-17页
第二章 针对IP核的低功耗MBIST设计与实现第17-33页
   ·MBIST简介第17-19页
     ·存储器简化模型及故障第17页
     ·MBIST结构第17-19页
   ·MBIST功耗第19-21页
     ·功耗来源第19-20页
     ·低功耗技术第20-21页
   ·低功耗MBIST调度结构第21-31页
     ·基本思想及预期目标第21-22页
     ·调度结构标准化设计第22-26页
     ·调度结构层次化应用第26页
     ·实验及结果分析第26-31页
   ·本章小结第31-33页
第三章 针对IP核的低功耗扫描设计与实现第33-53页
   ·扫描设计第33-35页
     ·扫描设计结构第33页
     ·扫描测试工作过程第33-35页
   ·扫描设计功耗第35-38页
     ·功耗来源第35-37页
     ·低功耗技术第37-38页
   ·低功耗扫描设计宏观调度结构第38-51页
     ·基本思想及预期目标第38-39页
     ·调度结构第39-40页
     ·调度结构工作原理第40页
     ·实验及结果分析第40-51页
   ·本章小结第51-53页
第四章 调度结构整合及层次化设计第53-59页
   ·调度结构整合第53-55页
     ·基本思想及预期目标第53页
     ·调度结构第53-55页
   ·调度结构层次化应用第55-57页
     ·底层IP的局部层次化应用第55-56页
     ·IP被复用后的全局层次化应用第56-57页
   ·本章小结第57-59页
第五章 结论与展望第59-61页
   ·结论第59-60页
   ·将来研究重点第60-61页
致谢第61-62页
参考文献第62-65页
作者在学期间取得的学术成果第65页

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