基于JTAG的芯片互连测试技术的研究与实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-9页 |
| ·国外研究现状 | 第8-9页 |
| ·国内研究现状 | 第9页 |
| ·课题研究的意义 | 第9-10页 |
| ·研究内容及内容安排 | 第10-11页 |
| 第二章 边界扫描测试技术 | 第11-17页 |
| ·边界扫描测试的基本原理 | 第11-12页 |
| ·边界扫描测试标准的体系结构 | 第12-15页 |
| ·TAP 控制器 | 第12-14页 |
| ·边界扫描结构的寄存器 | 第14页 |
| ·边界扫描指令 | 第14-15页 |
| ·边界扫描语言 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第三章 互连测试的基本理论和数学模型的建立 | 第17-25页 |
| ·基本概念的定义 | 第17-20页 |
| ·网络 | 第17页 |
| ·测试 | 第17-18页 |
| ·故障 | 第18-20页 |
| ·故障模型的建立 | 第20-21页 |
| ·边界扫描测试的数学模型的建立 | 第21-23页 |
| ·布尔矩阵理论 | 第21页 |
| ·测试的数学模型的建立 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-25页 |
| 第四章 基于等权值算法的优化和分析 | 第25-43页 |
| ·测试算法评判指标 | 第25-29页 |
| ·紧凑性问题 | 第25-26页 |
| ·完备性问题 | 第26-29页 |
| ·传统经典测试算法分析 | 第29-33页 |
| ·改良计数序列算法 | 第29-30页 |
| ·计数补偿算法 | 第30页 |
| ·移位“1”算法 | 第30-32页 |
| ·等权值算法 | 第32-33页 |
| ·等权值算法优化 | 第33-36页 |
| ·优化的等权值算法的基本思想 | 第33-34页 |
| ·优化的等权值算法的描述 | 第34-36页 |
| ·优化的等权值算法的分析 | 第36页 |
| ·自适应算法 | 第36-41页 |
| ·自适应算法的主要思想 | 第36-37页 |
| ·现有的自适应算法的缺陷 | 第37-38页 |
| ·自适应诊断算法的优化 | 第38-40页 |
| ·改进后算法的性能分析 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第五章 互连测试软件的设计与实现 | 第43-51页 |
| ·软件的总体方案 | 第43-44页 |
| ·BSDL 文件分析模块设计 | 第44-46页 |
| ·网表文件分析模块设计 | 第46-47页 |
| ·生成测试向量模块设计 | 第47-49页 |
| ·边界扫描链路 | 第47-48页 |
| ·测试向量生成 | 第48-49页 |
| ·测试控制模块设计 | 第49页 |
| ·测试结果显示模块设计 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第六章 总结与展望 | 第51-53页 |
| ·总结 | 第51页 |
| ·展望 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
