集成电路测试生成算法与可测性设计的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第7-8页 |
| ·集成电路测试及可测性设计国内外研究现状 | 第8-9页 |
| ·集成电路测试概述 | 第9-11页 |
| ·集成电路测试测试基本原理 | 第9-10页 |
| ·集成电路检测与诊断 | 第10页 |
| ·集成电路测试精度的分析 | 第10-11页 |
| ·集成电路测试的作用 | 第11页 |
| ·本章小结 | 第11-12页 |
| 第二章 集成电路芯片的可测性分析 | 第12-22页 |
| ·测试的相关概念 | 第12-14页 |
| ·集成电路的缺陷与故障 | 第12页 |
| ·故障的分类及其故障模型 | 第12-13页 |
| ·测试类型 | 第13-14页 |
| ·集成电路测试向量生成 | 第14-21页 |
| ·确定性测试向量生成 | 第14-16页 |
| ·伪随机测试向量生成 | 第16-20页 |
| ·混合测试向量生成法 | 第20-21页 |
| ·加权伪随机测试向量生成 | 第21页 |
| ·小结 | 第21-22页 |
| 第三章 集成电路可测性设计方法 | 第22-33页 |
| ·可测性设计(DFT) | 第22-23页 |
| ·集成电路可测性设计概述 | 第22-23页 |
| ·集成电路可测性设计的意义 | 第23页 |
| ·扫描设计 | 第23-24页 |
| ·边界扫描设计 | 第24-26页 |
| ·边界扫描测试技术的由来 | 第24-25页 |
| ·边界扫描测试技术 | 第25页 |
| ·边界扫描测试的应用 | 第25-26页 |
| ·内建自测试(BIST)技术 | 第26-31页 |
| ·概述 | 第26-27页 |
| ·器件级离线BIST的体系结构 | 第27-29页 |
| ·BIST的功能和关键元素 | 第29页 |
| ·BIST的测试过程 | 第29-31页 |
| ·目前BIST技术的水平 | 第31页 |
| ·小结 | 第31-33页 |
| 第四章 混合信号集成电路的测试 | 第33-43页 |
| ·混合信号测试概述 | 第33-34页 |
| ·基于DSP的测试技术 | 第34-36页 |
| ·采样原理 | 第34-35页 |
| ·波形数字化 | 第35-36页 |
| ·波形发生器 | 第36页 |
| ·混合信号电路的数字DFT | 第36-39页 |
| ·混合信号边界扫描和BIST | 第39-42页 |
| ·混合信号边界扫描(IEEE1149.4) | 第39-41页 |
| ·混合信号BIST | 第41-42页 |
| ·小结 | 第42-43页 |
| 总结 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-48页 |
| 申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49页 |
