射频IC量产化测试系统及其校正系统开发与实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| Contents | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·选题背景 | 第10页 |
| ·国内外发展现状 | 第10-13页 |
| ·主要研究工作内容及创新点 | 第13-16页 |
| ·主要研究及开发内容 | 第13-14页 |
| ·创新点 | 第14-16页 |
| 第2章 测试理论及测试系统 | 第16-23页 |
| ·半导体测试理论 | 第16-18页 |
| ·测试参数分类 | 第16-17页 |
| ·射频 IC 测试系统原理 | 第17-18页 |
| ·测试系统比较 | 第18-22页 |
| ·传统射频芯片测试系统 | 第18-19页 |
| ·J750-PXI 系统的优点 | 第19-20页 |
| ·成本优势对比 | 第20-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 主测试机台配置选择与系统总体结构设计 | 第23-36页 |
| ·系统要具备的测试资源 | 第23-28页 |
| ·待测管脚分析 | 第23-24页 |
| ·待测参数及测试要求 | 第24-27页 |
| ·系统应具备的性能总结 | 第27-28页 |
| ·主测机台配置选择 | 第28-32页 |
| ·J750 配置选择 | 第28-29页 |
| ·PXI 模块选型与应用 | 第29-32页 |
| ·测试系统结构与测试流程 | 第32-35页 |
| ·测试系统总体结构设计 | 第32-34页 |
| ·测试总流程设计 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 测试系统设计与实现 | 第36-67页 |
| ·测试系统硬件平台设计与实现 | 第36-48页 |
| ·减小测量误差的理论研究 | 第36-40页 |
| ·电磁理论及仿真工具应用 | 第40-42页 |
| ·射频控制箱开发 | 第42-47页 |
| ·测试板设计与实现 | 第47-48页 |
| ·测试系统软件平台设计与实现 | 第48-66页 |
| ·全参数测试流程设计 | 第48-50页 |
| ·射频控制箱程序控制 | 第50页 |
| ·IG-XL 的工作表开发 | 第50-53页 |
| ·DC 测试项开发 | 第53-54页 |
| ·RF 测试项开发 | 第54-58页 |
| ·在线 EQC 程序设计 | 第58-59页 |
| ·测试界面设计 | 第59-61页 |
| ·其他部分设计 | 第61-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第5章 校正系统开发 | 第67-82页 |
| ·校正系统的作用 | 第67页 |
| ·仪表性能总结 | 第67-68页 |
| ·校正系统架构设计 | 第68-69页 |
| ·校正系统软件平台开发与实现 | 第69-81页 |
| ·校正流程设计 | 第69-70页 |
| ·GPIB 总线相关程序开发 | 第70-73页 |
| ·矢量信号发生器校正模块开发 | 第73-74页 |
| ·PXI 校正模块开发 | 第74-76页 |
| ·射频控制箱校正模块开发 | 第76-78页 |
| ·数据处理程序设计 | 第78-80页 |
| ·校正界面开发 | 第80-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 第6章 系统性能研究及应用 | 第82-95页 |
| ·测试系统性能研究 | 第82-93页 |
| ·测试系统误差研究 | 第82-85页 |
| ·测量系统不确定度研究 | 第85-91页 |
| ·系统性能曲线拟合 | 第91-93页 |
| ·过程能力分析 | 第93-94页 |
| ·本章小结 | 第94-95页 |
| 总结与展望 | 第95-96页 |
| 参考文献 | 第96-99页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第99-100页 |
| 致谢 | 第100-101页 |
| 附录 | 第101页 |
