VLSI自动测试向量生成技术研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| ·数字电路测试的发展现状 | 第9-13页 |
| ·自动测试向量技术的发展现状 | 第9-11页 |
| ·可测试性设计和内建自测试的发展现状 | 第11-13页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 数字电路测试的相关理论 | 第14-24页 |
| ·故障类型及建模 | 第14-16页 |
| ·单固定型故障 | 第14-15页 |
| ·多固定型故障 | 第15页 |
| ·桥接故障 | 第15-16页 |
| ·故障等价与压缩 | 第16页 |
| ·故障模拟 | 第16-19页 |
| ·串行故障模拟 | 第18页 |
| ·并行故障模拟 | 第18-19页 |
| ·演绎故障模拟 | 第19页 |
| ·自动测试向量生成方法 | 第19-23页 |
| ·自动测试向量生成方法分类 | 第19-21页 |
| ·组合电路算法研究 | 第21-22页 |
| ·时序电路算法研究 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 数字电路测试生成平台的研发 | 第24-41页 |
| ·总体框架设计 | 第24-25页 |
| ·可测性度量的标准及算法 | 第25-30页 |
| ·相关度量标准 | 第25-27页 |
| ·SCOAP 算法实现 | 第27页 |
| ·PODEM 算法实现 | 第27-30页 |
| ·基准电路及格式 | 第30-32页 |
| ·基准电路 | 第30-31页 |
| ·格式描述 | 第31-32页 |
| ·设计中相关文件和数据研究 | 第32-35页 |
| ·相关文件描述 | 第32-33页 |
| ·相关数据结构 | 第33-35页 |
| ·故障操作与测试向量生成 | 第35-40页 |
| ·故障的注入和移除 | 第35-37页 |
| ·测试向量的生成 | 第37-40页 |
| ·故障仿真 | 第40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 内建自测试向量生成方法研究 | 第41-57页 |
| ·方案总体规划 | 第41-42页 |
| ·伪随机序列生成电路研究 | 第42-48页 |
| ·LFSR 序列与反馈多项式的关系 | 第43-45页 |
| ·LFSR 序列特性 | 第45-46页 |
| ·伪随机序列电路的设计 | 第46-48页 |
| ·LFSR 播种方法研究 | 第48-54页 |
| ·播种方法简介 | 第48-50页 |
| ·确定性测试向量生成 | 第50-51页 |
| ·BIST 向量模块设计 | 第51-54页 |
| ·测试与分析 | 第54-56页 |
| ·测试电路 | 第54页 |
| ·结果分析 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
