面向NoC多核并行测试的数据处理技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-20页 |
| ·概述 | 第13-17页 |
| ·本论文研究的背景、目的 | 第13-15页 |
| ·国内外研究现状 | 第15-17页 |
| ·国内研究现状 | 第15-16页 |
| ·国外研究现状 | 第16-17页 |
| ·本论文的研究内容、拟解决的关键问题及创新之处 | 第17-20页 |
| ·研究内容 | 第17-18页 |
| ·拟解决的关键问题 | 第18页 |
| ·创新之处 | 第18-19页 |
| ·论文结构及内容安排 | 第19-20页 |
| 第二章 测试的基础知识 | 第20-32页 |
| ·测试的意义 | 第20页 |
| ·测试的过程 | 第20-21页 |
| ·可测性设计 | 第21-29页 |
| ·可测性设计概述 | 第21-23页 |
| ·扫描设计 | 第23-28页 |
| ·扫描链 | 第23-26页 |
| ·边界扫描设计实例 | 第26-28页 |
| ·全扫描和部分扫描 | 第28页 |
| ·扫描设计测试应用时间计算 | 第28-29页 |
| ·IEEE 1500 标准的测试封装 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 针对片上网络并行测试的测试集合并方法 | 第32-42页 |
| ·引言 | 第32-33页 |
| ·测试集合并实例 | 第33-35页 |
| ·共享测试集分离电路的实现 | 第35-37页 |
| ·测试集合并算法 | 第37-39页 |
| ·复用 NoC 架构 | 第39-40页 |
| ·实验结果 | 第40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第四章 利用少数相关位的集成电路测试数据压缩方法 | 第42-51页 |
| ·引言 | 第42页 |
| ·本文方案 | 第42-46页 |
| ·少数相关位 | 第42-43页 |
| ·方法思想 | 第43-44页 |
| ·数据块之间相关性分析算法描述 | 第44-45页 |
| ·编码实例 | 第45-46页 |
| ·解码体系结构及原理 | 第46-49页 |
| ·实验结果 | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第五章 总结与展望 | 第51-53页 |
| ·总结 | 第51页 |
| ·展望下一步工作 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-60页 |
| 附录 | 第60-62页 |
