首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--测试和检验论文

基于嵌入式Linux的集成电路老化测试设备软件系统的设计及实现

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-10页
第一章 绪论第10-13页
   ·课题研究的背景及意义第10-11页
   ·国内外研究现状第11-12页
   ·论文的内容安排第12-13页
第二章 系统设计方案第13-19页
   ·集成电路老化测试设备整体构架第13-14页
   ·老化测试设备的硬件结构第14-17页
     ·电源系统第14页
     ·信号产生与回检系统第14-16页
     ·数字信号驱动板第16-17页
     ·嵌入式ARM核心板第17页
   ·老化测试设备的软件系统设计第17-18页
     ·嵌入式操作系统的选择第17-18页
     ·软件系统总体构架第18页
   ·本章小结第18-19页
第三章 嵌入式LINUX软件平台的构建第19-34页
   ·交叉编译环境的建立第19-21页
     ·开发环境的搭建第19-20页
     ·交叉编译工具链的制作第20-21页
   ·BOOTLOADER移植第21-27页
     ·Bootloader启动流程介绍第22-24页
     ·U-Boot移植第24-27页
   ·LINUX内核移植第27-30页
   ·LINUX根文件系统的创建第30-32页
   ·本章小结第32-34页
第四章 各系统驱动程序设计第34-43页
   ·LINUX系统设备驱动介绍第34-36页
   ·各模块接口驱动开发第36-41页
     ·控制端口驱动程序设计第36-38页
     ·FPGA驱动程序设计第38-39页
     ·SPI接口驱动程序设计第39-41页
     ·电源系统接口驱动程序设计第41页
   ·驱动程序的模块加载第41-42页
   ·本章小结第42-43页
第五章 应用程序开发及方案验证第43-57页
   ·老化测试的整体流程第43-44页
   ·基于TCP/IP的网络通信程序第44-47页
   ·基于嵌入式LINUX的本地通信程序第47-51页
     ·嵌入式系统与各模块通信的数据帧格式第47-50页
     ·嵌入式系统与硬件模块的通信程序第50-51页
   ·系统方案验证第51-56页
     ·模拟芯片老化测试第51-52页
     ·数字逻辑芯片的老化测试第52-54页
     ·存储芯片的老化测试第54-56页
   ·本章小结第56-57页
第六章 总结与展望第57-59页
   ·本文工作总结第57页
   ·未来工作展望第57-59页
致谢第59-60页
参考文献第60-62页
作者在读期间发表的学术论文及参加的科研项目第62-63页
附录第63页

论文共63页,点击 下载论文
上一篇:基于磷化铟工艺的人工磁导体片上天线设计
下一篇:毫米波放大器研究与设计