数字集成电路时序故障的在线检测技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| ·课题研究背景 | 第13-15页 |
| ·课题研究意义 | 第15-16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-18页 |
| ·本文工作 | 第18-19页 |
| ·课题来源 | 第18页 |
| ·研究内容 | 第18-19页 |
| ·主要贡献 | 第19页 |
| ·论文组织结构 | 第19-21页 |
| 第二章 电路失效的基本知识 | 第21-33页 |
| ·电路失效概述 | 第21-22页 |
| ·老化基本知识简介 | 第22-26页 |
| ·引起老化的几种因素 | 第23-25页 |
| ·老化防护技术 | 第25-26页 |
| ·软错误基本知识 | 第26-28页 |
| ·软错误的概念 | 第26-28页 |
| ·软错误防护技术 | 第28页 |
| ·HSPICE 仿真工具 | 第28-32页 |
| ·Hspice 简介 | 第28-29页 |
| ·Hspice 文件及书写规则 | 第29-31页 |
| ·Hspice 中几个重要语句 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 老化及软错误在线防护设计 | 第33-42页 |
| ·ARSC 老化预测策略 | 第33-38页 |
| ·ARSC 抗老化的延迟单元设计 | 第34-35页 |
| ·ARSC 稳定性检测器的工作原理 | 第35-37页 |
| ·ARSC 检测单元的优缺点 | 第37-38页 |
| ·SVFD 电路失效防护策略 | 第38-40页 |
| ·SVFD 稳定性检测器工作原理 | 第39-40页 |
| ·SVFD 检测单元的优缺点 | 第40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第四章 一种消除浮空点的多功能检测单元 NFSC | 第42-54页 |
| ·NFSC 的研究目的 | 第42页 |
| ·故障模型及时序约束 | 第42-45页 |
| ·NFSC 信号模型转换 | 第42-44页 |
| ·NFSC 时序约束 | 第44-45页 |
| ·NFSC 框架及工作原理 | 第45-48页 |
| ·NFSC 框架结构 | 第45-46页 |
| ·NFSC 工作原理 | 第46-48页 |
| ·实验结果 | 第48-53页 |
| ·检测性能分析 | 第48-50页 |
| ·抗老化性分析 | 第50-51页 |
| ·功耗开销分析 | 第51-52页 |
| ·面积开销分析 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 总结与展望 | 第54-56页 |
| ·全文总结 | 第54-55页 |
| ·展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研项目 | 第60-62页 |
