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测试和检验
PCB光电外观检测系统标准检测信息库的建立和研究
基于VMM的高效率单元验证平台设计
OTP存储器编程与测试系统的设计技术研究
PCB外观检测仪中基于FPGA的CMOS图像采集
IC参数自动测试系统关键技术研究
基于Gerber的PCB缺陷光电检测系统软件研究
可寻址的成品率分析芯片验证流程研究
优化SoC测试性能的测试数据重组技术研究
基于自反馈的测试向量生成算法研究
小时延故障模拟方法研究
N-detection测试产生方法研究
基于有界延迟模型的延迟测试算法研究
功耗限制下RTL数据通路低费用测试方法研究
基于扫描链重排序的低功耗测试方法研究
基于游程编码的测试向量压缩方法研究
基于VMM的EEPROM控制器IP的功能验证
测量系统分析在集成电路测试中的应用
基于电磁扫描的高密度电路板故障器件检测技术
边界扫描测试技术的分析与研究
视频格式转换芯片的可测性设计与形式验证
漏电保护电路及测试系统设计
8位MCU的可测试性设计研究
多媒体电源管理器芯片APLITE降低测试成本研究
基于Delta Flex自动测试分选机分料器放料不正问题的研究和改进
基于VMM的7816接口模块验证
基于相容性分析的测试数据压缩方法研究
加权内建自测试（BIST）设计中的多目标优化技术研究
高密度电路板异常频率点检测方法研究
基于电磁扫描的高密度电路模块检测技术研究
微型叠层芯片的红外测温实验研究
芯片基板翘曲形变微观形貌测量关键技术研究
集成电路互连噪声检测及其应用
针对集成电路老化的可靠性检测研究
微型叠层芯片固有频率的实验测试研究
基于ARM的变压器温度检测系统
基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法研究
光栅尺高速高精度跨尺度位移测量方法的研究
基于等确定位切分的SoC内建自测试方法研究
NOR闪存读出不稳定性问题的研究与解决
一种基于改写策略的安全SRAM芯片的研究与设计
半导体芯片测试自动物料传送设备的研究
集成电路测试系统微小微电子参量校准技术研究
微型电光探测器的制作工艺研究
模拟集成电路测试系统及网络设计
基于SAT的通路时延故障测试生成技术的研究
超声热量测量ASIC的芯片级验证
IP软核验证方法研究
系统芯片测试优化关键技术研究
集成电路软错误问题研究
电导法检测毛细管电泳芯片
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