基于March算法的SRAM内建自测试设计与验证
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| ·课题背景 | 第15-17页 |
| ·国内外研究情况 | 第17-18页 |
| ·章节安排 | 第18-21页 |
| 第二章 可测性设计与存储器理论 | 第21-37页 |
| ·扫描技术 | 第22-24页 |
| ·边界扫描技术 | 第24-28页 |
| ·存储器内建自测试技术 | 第28-30页 |
| ·SRAM结构模型 | 第30-31页 |
| ·SRAM故障模型 | 第31-37页 |
| ·固定型故障（SAF） | 第32-33页 |
| ·跳变故障（TF） | 第33页 |
| ·耦合故障（CF） | 第33-35页 |
| ·相邻图形敏感故障（NPSF） | 第35页 |
| ·地址译码故障（ADF） | 第35-37页 |
| 第三章 MBIST测试算法 | 第37-47页 |
| ·测试算法原理和性能指标 | 第37-38页 |
| ·测试算法原理 | 第37页 |
| ·性能指标 | 第37-38页 |
| ·常见测试算法 | 第38-42页 |
| ·改进的March LR算法 | 第42-44页 |
| ·改进算法有效性分析 | 第44-47页 |
| ·测试时间分析 | 第44页 |
| ·故障覆盖率分析 | 第44-45页 |
| ·故障覆盖范围分析 | 第45页 |
| ·改进算法的适用性 | 第45-47页 |
| 第四章 MBIST设计与验证 | 第47-67页 |
| ·嵌入式存储器设计 | 第47-48页 |
| ·MBIST电路设计 | 第48-53页 |
| ·BIST控制电路 | 第49-51页 |
| ·数据生成电路 | 第51-52页 |
| ·地址生成电路 | 第52-53页 |
| ·响应分析电路 | 第53页 |
| ·MBIST电路生成 | 第53-58页 |
| ·代码生成工具 | 第53-54页 |
| ·算法文件定义 | 第54-55页 |
| ·MBIST电路生成 | 第55-58页 |
| ·多存储器的MBIST电路设计 | 第58-61页 |
| ·仿真实现 | 第61-67页 |
| 第五章 结论与展望 | 第67-69页 |
| ·研究结论 | 第67页 |
| ·研究展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 作者简介 | 第75-76页 |
| 1.基本情况 | 第75页 |
| 2.教育背景 | 第75-76页 |
