| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-18页 |
| ·课题研究背景与意义 | 第14-16页 |
| ·集成电路发展对测试的影响 | 第14-15页 |
| ·目前测试技术及其局限性 | 第15页 |
| ·国内外测试优化技术发展现状 | 第15-16页 |
| ·本文主要贡献 | 第16-17页 |
| ·文章的结构安排 | 第17-18页 |
| 第二章 可测性设计 | 第18-24页 |
| ·可测性设计基本概念 | 第18页 |
| ·测试的基本原理 | 第18-19页 |
| ·故障模型和故障模拟 | 第19页 |
| ·测试向量的生成 | 第19-20页 |
| ·扫描测试 | 第20-21页 |
| ·边界扫描测试 | 第21-22页 |
| ·内建自测试技术 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 聚类算法与随机化算法 | 第24-30页 |
| ·聚类算法 | 第24-26页 |
| ·聚类算法特性介绍 | 第24-25页 |
| ·常用的聚类算法 | 第25-26页 |
| ·随机化算法 | 第26-27页 |
| ·贪婪算法 | 第27页 |
| ·随机化聚类算法 | 第27-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 测试向量生成与ATPG技术 | 第30-44页 |
| ·多时钟域SOC的DFT架构 | 第30-32页 |
| ·基于IP复用的多时钟域SOC | 第30-32页 |
| ·SOC的测试访问机制 | 第32页 |
| ·故障建模及ATPG原理 | 第32-34页 |
| ·故障建模的基本概念 | 第32-33页 |
| ·ATPG工作原理 | 第33-34页 |
| ·ATPG工具的使用步骤 | 第34页 |
| ·测试向量生成算法 | 第34-35页 |
| ·组合电路测试向量生成算法 | 第34-35页 |
| ·时序电路测试向量生成算法 | 第35页 |
| ·TestKompress介绍 | 第35-38页 |
| ·本文采用的ATPG测试方法 | 第38-42页 |
| ·stuck-at测试与at-speed测试 | 第38页 |
| ·ATPG过程中的时钟捕获机制 | 第38-40页 |
| ·时钟捕获阶段的测试控制方法 | 第40-42页 |
| ·时钟（域）分组 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-44页 |
| 第五章 扫描时钟结构设计 | 第44-62页 |
| ·用于stuck-at ATPG的扫描时钟结构设计方法 | 第44-58页 |
| ·扫描时钟分组算法流程 | 第47-53页 |
| ·实验结果分析 | 第53-58页 |
| ·用于at-speed ATPG的扫描时钟结构设计方法 | 第58-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 结束语 | 第62-64页 |
| ·本文工作总结 | 第62页 |
| ·展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 作者简介 | 第70-71页 |