| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| ·课题的研究背景与意义 | 第13页 |
| ·可重构硬件自诊断与自修复技术研究现状 | 第13-17页 |
| ·可重构硬件的故障类型 | 第13-14页 |
| ·故障自诊断与自修复技术简介 | 第14-15页 |
| ·国内外研究现状 | 第15-17页 |
| ·本文的研究工作及论文结构 | 第17-19页 |
| ·本文的研究工作 | 第17页 |
| ·论文结构 | 第17-19页 |
| 第二章 具有自诊断与自修复能力的可重构硬件结构设计 | 第19-33页 |
| ·引言 | 第19页 |
| ·可重构硬件体系结构 | 第19-20页 |
| ·容错开关块结构 | 第20-24页 |
| ·基本开关块结构 | 第21页 |
| ·容错开关块结构 | 第21-24页 |
| ·可重构硬件的功能细胞单元 | 第24-31页 |
| ·可配置逻辑层电路 | 第24-26页 |
| ·配置层电路 | 第26-27页 |
| ·检测层电路 | 第27-30页 |
| ·修复层电路 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 第三章 可重构硬件互连资源自诊断与自修复方法研究 | 第33-50页 |
| ·引言 | 第33-34页 |
| ·可重构硬件互连资源在线自诊断方法 | 第34-38页 |
| ·初步诊断方法 | 第35-36页 |
| ·精确定位方法 | 第36-38页 |
| ·可重构硬件互连资源自修复方法 | 第38-40页 |
| ·容错开关块的自修复方法 | 第38-39页 |
| ·连线自修复方法 | 第39-40页 |
| ·电路实例与实验结果分析 | 第40-49页 |
| ·电路设计 | 第40-41页 |
| ·仿真实验验证 | 第41-45页 |
| ·物理实验验证 | 第45-48页 |
| ·实验结果分析 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 可重构硬件可配置逻辑块自诊断与自修复方法研究 | 第50-64页 |
| ·引言 | 第50-51页 |
| ·可重构硬件可配置逻辑块的自诊断方法 | 第51-53页 |
| ·查找表的自诊断循环顺序 | 第51-52页 |
| ·查找表的自诊断方法 | 第52-53页 |
| ·可重构硬件可配置逻辑块的自修复方法 | 第53-55页 |
| ·配置信息转移 | 第53-54页 |
| ·可配置逻辑层的信号线选择 | 第54-55页 |
| ·电路实例与实验结果分析 | 第55-63页 |
| ·电路设计 | 第55页 |
| ·仿真实验验证 | 第55-60页 |
| ·物理实验验证 | 第60-61页 |
| ·实验结果分析 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 总结与展望 | 第64-66页 |
| ·研究工作总结 | 第64页 |
| ·后续研究建议 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第72页 |