基于LXI总线框架的自动化IC测试系统硬件设计
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 1 引言 | 第11-15页 |
| ·自动化测试的发展 | 第11-13页 |
| ·自动化测试系统的发展 | 第11页 |
| ·仪器总线的发展 | 第11-12页 |
| ·LXI总线的特点及优势 | 第12-13页 |
| ·课题的研究意义和目标 | 第13-14页 |
| ·论文的组织结构 | 第14-15页 |
| 2 基于LXI总线框架的IC测试系统总体框架 | 第15-23页 |
| ·主处理器选型 | 第15-21页 |
| ·ARM微处理器 | 第15-16页 |
| ·LPC1766简介 | 第16-21页 |
| ·系统的可靠性分析 | 第21-22页 |
| ·干扰的来源 | 第21页 |
| ·几种常见的抗干扰技术 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 3 系统基本电路设计 | 第23-34页 |
| ·电源电路设计 | 第23-26页 |
| ·复位电路设计 | 第26-29页 |
| ·以太网电路设计 | 第29-30页 |
| ·JTAG电路设计 | 第30-32页 |
| ·时钟电路设计 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 4 系统功能电路设计 | 第34-50页 |
| ·A/D采样转化电路设计 | 第34-40页 |
| ·模拟量采集电路设计 | 第34-36页 |
| ·滤波电路设计 | 第36-37页 |
| ·A/D转换电路设计 | 第37-40页 |
| ·D/A电路设计 | 第40-44页 |
| ·D/A芯片选型 | 第40-41页 |
| ·工作模式 | 第41-43页 |
| ·电源供应与旁路 | 第43-44页 |
| ·数字量输入电路设计 | 第44-47页 |
| ·数字量输出电路设计 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 5 系统的PCB设计及焊接测试 | 第50-55页 |
| ·系统的PCB设计 | 第50-51页 |
| ·系统的焊接与调试 | 第51-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 6 结论 | 第55-57页 |
| ·工作总结 | 第55页 |
| ·不足和展望 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 附录A | 第59-60页 |
| 附录B | 第60-61页 |
| 附录C | 第61-62页 |
| 附录D | 第62-63页 |
| 附录E | 第63页 |
| 附录F | 第63-64页 |
| 附录G | 第64-65页 |
| 附录H | 第65-66页 |
| 附录I | 第66-67页 |
| 作者简历 | 第67-69页 |
| 学位论文数据集 | 第69页 |
