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片上网络(NoC)的互连串扰测试方法研究

摘要第1-5页
Abstract第5-8页
第一章 绪论第8-13页
   ·课题背景及意义第8-9页
   ·高速互连串扰面临的挑战第9-10页
   ·片上网络的研究现状第10-11页
   ·课题的主要工作第11-12页
   ·论文的结构第12-13页
第二章 集成电路测试技术第13-24页
   ·测试的原理第13页
   ·测试类型第13-14页
   ·可测性设计第14-23页
     ·边界扫描测试技术第14-16页
     ·嵌入式内核测试技术第16-19页
     ·内建自测试技术第19-23页
   ·本章小结第23-24页
第三章 互连串扰的理论基础与测试研究第24-36页
   ·串扰的定义及耦合机理第24-28页
     ·串扰的定义第24-25页
     ·容性耦合第25-26页
     ·感性耦合第26-27页
     ·奇模传输与偶模传输第27-28页
   ·高速互连串扰电路第28-31页
     ·基本概念第28页
     ·传输线的工作特性第28-31页
   ·串扰的影响因素及仿真分析第31-35页
     ·攻击线数目对串扰的影响第31-33页
     ·攻击线宽度对串扰的影响第33-34页
     ·不同上升时间条件下耦合长度对串扰的影响第34-35页
   ·本章小结第35-36页
第四章 片上网络结构及互连串扰测试第36-49页
   ·片上网络通讯结构第36-37页
   ·二维网状结构第37-39页
   ·片上网络串扰故障及仿真分析第39-45页
     ·互连串扰故障模型第39-40页
     ·故障模型仿真分析第40-45页
   ·互连串扰测试第45-48页
     ·内建自测试结构第45-47页
     ·测试矢量生成第47-48页
     ·测试响应分析第48页
   ·本章小结第48-49页
第五章 片上网络测试结构的FPGA 实现第49-63页
   ·FPGA 结构第49-51页
   ·ISE 集成开发软件第51-52页
   ·内建自测试结构的FPGA 实现第52-62页
     ·ModelSim 功能仿真第53-54页
     ·ISE 设计第54-57页
     ·FPGA 验证第57-62页
   ·本章小结第62-63页
第六章 总结与展望第63-65页
致谢第65-66页
参考文献第66-69页
攻硕期间取得的研究成果第69-70页

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